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上海长方光学仪器有限公司

普通LCR测试仪的使用方法 普通LCR测试仪的使用方法 广泛的测量对象

来源:内容来源于网络 浏览量:1395次
【导读】普通LCR测试仪的使用方法用LCR测试仪来测量零部件的参数时,其关键问题在于测量误差。首先是LCR测试仪本身的内部误差,还存在各种各样的原因,而与试样的连接所引起的误差,就是其中之...

普通LCR测试仪的使用方法

用LCR测试仪来测量零部件的参数时,其关键问题在于测量误差。首先是LCR测试仪本身的内部误差,还存在各种各样的原因,而与试样的连接所引起的误差,就是其中之一。由于LCR测试仪的型号不同,可能的连接方法也会有区别,在此我们整理一下五种连接方法的各自特点。一般来说,连接方法越麻烦,越能准确地进行测量。

广泛的测量对象

  无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。

  半导体元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。

  其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。

  介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。

  磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。

  半导体材料:半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。

  液晶材料:液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。


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2004-09-05 09:23:12
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