DAGE XD7500VR Jade Plus X光检查机

DAGE XD7500VR Jade Plus X光检查机

检验产品品质

DAGE XD7500VR Jade Plus X光检查机可快速完成生产PCB检测，Quadra 5和7具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、封装和晶圆级检测以及故障分析。

Jade Plus采用开放式X射线管，钨丝可更换，蕞高在3 W功率下可达1μm特征分辨率。

测量

Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。内置尺寸测量工具、BGA空洞分析、凸点直径和圆度以及通孔填充，可快速查找并表征缺陷

0.95μm解析度决定了是否能在无源元件中发现微裂纹。Jade Plus的解析度足以在微型BGA球内进行精确的空洞分析。

规格参数

X射线灯管：    开放式透射管

特征分辨率：   0.95 μm

靶功率：         3 W

电压：            30 - 160 kV

探测器：         AspireFP™平板探测器

分辨率：         1.4 MP

帧率：            10 fps

数字图像处理:  16 bit

安装            

软件:               基于Windows 10的Gensys® X射线检测软件

操作:               鼠标指向并单击（操纵杆可选）

斜角视图:         2 × 60° - 无需旋转样品

检测区:            510 x 445 mm (20 x 17.5”)

放大倍率:         高达7500倍

显示器:            单24” WUXGA

设备

尺寸（宽x深x高）：1.57 x 1.57 x 1.9 m

重量：                   1,950 kg (4,300 lbs)

气源：                   无要求

X射线安全性：       < 1 μSv/小时