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X射线荧光光谱分析用合成标准物质

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详细介绍
基本信息
产品编号GBW07722
中文名称

X射线荧光光谱分析用合成标准物质

英文名称

X- Ray Fluorescence spectrum Artificial Standard Material

形态固态
基质岩石
存储条件可存放在没有直射光线,温度在26ºC以下的干燥器中。
注意事项使用前105ºC干燥2小时,置干燥器中冷至室温后使用可用纯净SiO2按比例研磨混合,系列稀释后使用Mn组标准样品最小取样量为20mg。
量值信息
组分标准值不确定度单位
Rb0.51 质量分数(10-6)
Ba14.3 1.1质量分数(10-6)
Cr6.2 1.5质量分数(10-6)
Yb6.7 4.6质量分数(10-6)
Hf0.181 0.018质量分数(10-2)
Mo1.78 0.16质量分数(10-6)
As116 质量分数(10-6)
Sn0.78 质量分数(10-6)
Pb3.56 0.2质量分数(10-2)
Ni3.84 0.15质量分数(10-2)
Co1.59 0.04质量分数(10-2)
Cu3.85 0.17质量分数(10-2)
La1.47 0.08质量分数(10-9)
Zr7.26 0.22质量分数(10-2)
Nd1.56 0.01质量分数(10-9)
V1.52 0.06质量分数(10-2)
Sr4.1 0.2质量分数(10-6)
Ce1.4 0.2质量分数(10-6)
Zn9.2 0.2质量分数(10-6)
Y3.9 0.2质量分数(10-6)
Ta2.8 质量分数(10-6)
Bi7.1 质量分数(10-6)
Ti124 0.2质量分数(10-6)
Mn4.5 0.2质量分数(10-6)
W0.23 质量分数(10-6)
Ga103 质量分数(10-6)
Nb1.2 0.2质量分数(10-6)
Cs0.62 质量分数(10-6)
Ge44.5 质量分数(10-6)
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