X射线荧光光谱分析用合成标准物质

X射线荧光光谱分析用合成标准物质介绍：

使用注意事项：使用前105ºC干燥2小时，置干燥器中冷至室温后使用。可用纯净SiO2按比例研磨混合，系列稀释后使用。Mn组标准样品。最小取样量为20mg。
特征形态：固态
主要分析方法：X射线荧光法# 等离子光谱法# 等离子质谱法#
定值单位：国家地质实验测试中心#
规格：瓶子5mm
定级证书量值信息：&

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	标准值	不确定度	单位	CAS	备注
Rb	1.3	0.5	质量分数(10-6)	7440-17-7
Ba	8.1	4.6	质量分数(10-6)	7440-39-3
Cr	17.1	4.2	质量分数(10-6)	7440-47-3
Yb	(0.74)		质量分数(10-6)	7440-64-4
Hf	3.3	0.6	质量分数(10-6)	7440-58-6
Mo	1.3	0.6	质量分数(10-6)	7439-98-7
As	(1.2)		质量分数(10-6)	7440-38-2
Sn	(0.68)		质量分数(10-6)	7440-31-5