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日本Photonic lattic相位差检测仪WPA-200

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日本Photonic lattic相位差检测仪WPA-200 核心参数
测量范围 0-1000mpa 准确度 ±2%
温度范围 常温常湿

产品特点

日本Photonic lattic相位差检测仪WPA-200以其世界的光子晶体制造技术开发的产品,测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为*的光学测量产品。

该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器,用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。

日本Photonic lattic相位差检测仪WPA-200​特点

1 操作简单,测量速度可以快到3秒,

2 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。

3 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。

4 具有多种分析功能和测量结果的比较。

5 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

详细介绍

日本Photonic lattic相位差检测仪WPA-200主要应用

·         光学零件(镜片、薄膜、导光板)

·         透明成型品(车载透明零件、食用品容器)

·         透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL)

·         透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)

·         有机材料(球晶、FishEve)

参数指标

型号

WPA-200

WPA-200-L

测量范围

0~30OOnm

重复性

<1.0nm

像素数

384×288(≒11万)pixels

测量波长

523nm,543nm,575nm

尺寸

270×340×560 mm

430×490×910 mm

观测到的zui大面积

24×32 mm ~ 100×133mm

33×44 mm ~ 240×320mm

重量

13kg

23kg

数据接口

GigE(摄像机信号)   RS232C(电机控制)

电压电流

AC100-240V(50/60Hz)

软件

WPA-View

相位差测试仪(500×500).png


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