德国布鲁克 材料基因分析Bruker-03

产品介绍：

微区X射线荧光光谱仪提供一种大面积材料成份分布的无损高通量定量表征分析方法，材料基因分析可用于薄膜材料，块体材料，以及各种梯度材料中的成份分析及定量分析。

材料基因分析技术是对大尺寸不规则、不均匀样品、甚至微小包裹体进行高灵敏度、非破坏性的元素分析方法。                

1. 矩形的真空室设计，样品无需制备，可直接放入舱内无损检测；

2. 优化的X射线光路，小光斑直径降到20µm范围内，且提供高的束流；

3. 多种仪器配置：可以选择增加了X射线管或探测器；

4. 通过使用真空模式（低噪音泵）和SLEW窗口，获得轻质元素的高灵敏度；

5. EasyLoad功能：方便样本的装入、取出，测量同时可以通过两个影像系统查看样品被测位置，自动聚焦autofocus，样品台移动和其它操作完全由鼠标控制。