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铂悦仪器(上海)有限公司
主营产品:德国布鲁克手持式光谱仪,便携式XRF、电子探针、台阶仪等进口分析仪器
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铂悦仪器(上海)有限公司

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铂悦仪器(上海)有限公司

薄膜应力测量仪

 
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美国Frontier Semiconductor Line    连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:Frontier Semiconductor-02
  • 产地:美洲 美国
  • 连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择

美国Frontier Semiconductor  薄膜应力和硅片翘曲检测仪
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:Frontier Semiconductor-01
  • 产地:美洲 美国
  • 使用应力控制,避免薄膜分层,形成凹凸状。 光学设计减少图形衬底对激光的干涉。 在TSV, 半导体以及LED工艺上控制基底弯度。 在平板显示行业,控制玻璃的平整度

美国Frontier Semiconductor  红外干涉测量设备FSM 413
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:FSM 413
  • 产地:美洲 美国
  • 红外干涉测量设备适用于可让红外线通过的材料

美国Frontier Semiconductor  全自动紫外线芯片应力测量仪FSM360
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:FSM360
  • 产地:美洲 美国
  • 芯片会产生另外一个光束(Raman信号),Raman信号的频率有别于原来的光源。 从Raman信号频率我们可以测出样本的应力大小。

美国Frontier Semiconductor Line    Card
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:Line Card
  • 产地:美洲 美国
美国Frontier Semiconductor 晶圆厚度测量系统FSM 413 EC
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:FSM 413 EC
  • 产地:美洲 美国
  • 非接触式厚度测量,可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的晶圆,也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆,可应用于堆叠芯片和微机电系统。

美国Frontier Semiconductor  薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 500TC
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:FSM 500TC
  • 产地:美洲 美国
  • FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性,主要应用于半导体,三-五族,太阳能,LED,数据存储,微机电和面板产业。这些特性有助于检测到诸...

美国Frontier Semiconductor  薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 128
  • 品牌:美国Frontier Semiconductor
  • 型号:FSM 128
  • 产地:美洲 美国
  • FSM率先推出基于商业化应用的激光扫描光学杠杆(Optilever)技术,主要应用于薄膜应力和晶圆弯曲测量。该设备频繁使用在分析解决诸如薄膜裂纹,分层,突起和空隙是如何形成的问题。FSM128系列设备...