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日本OURSTEX X射线荧光光谱仪序列产品

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详细介绍

型    号:X射线荧光光谱仪序列产品
标准规范:
用    途:能量色散型X射线荧光光谱仪的X射线管发射出初级X射线到样品上,通过半导体探测器检测样品激发出的荧光X射线,从而对样品元素进行无损定性和定量分析。
  •  一、便携式,最适用于现场分析   
       
         

             
                                    
    特点应用
    •快速无损地进行成分分析•考古调查/分析
    •对大而/或不规则的试样进行非接触分析 •文化资产分析
    •近距离分析曲面试样 •废料鉴别
    •小巧轻质便携•工业材料 R&D 评定,质量控制分析
    •适用于现场分析•高校/研究所材料研究分析
                                                          
                  
    二、专用于危险元素测量



     
    特点 应用
    •尺寸小、重量轻(20Kg+9Kg)•土壤中有害重金属元素分析
    •最适用于现场分析•环保工业废料分析
    •快速实现样品成分无损分析•研究工厂现场的的重金属污染或隧道
    •对中等或重金属 •钻探淤泥分析等
    •元素的灵敏度增强 
    •无需设置控制区 

     
    三、便携式全反射型X射线荧光光谱仪



     
    特点应用
    •具有高灵敏度,可与ICP和原子吸收分析相媲美 •检测分析井水、河水等                    
    •高灵敏度的硅漂移探测器(SDD) •分析洗涤土壤或玩具的水成分 
    •重量轻,仅8Kg •食品、制药等领域的现场分析
    •可进行ppm至ppb等级的测量•人类头发、空气悬浮物等的成分    分析
                              
    四、适合研究混凝土内的盐侵害





    特点应用
    •对混凝土的氯含量分析具有很高灵敏度•混凝土表面氯含量分析
    •对大而/或不规则的试样,进行非接触分析•混凝土芯样内盐的渗透性研究分析
    •小巧轻质便携,适用于现场分析•混凝土钻粉的氯含量分析
    •快速无损地进行成分分析•水泥成分分析 

     
    五、土壤污染和工程建筑物大批量样品测量





    特点应用
    •采用转塔式样品室, 可装载和测量12个样品 •土壤中有害重金属分析,钻探淤泥分析等
    •土壤中的As/Pb自动校准功能•环保工业废料分析
    •自动校准土壤中Fe对PB的影响•研究工厂现场的重金属污染或隧道
                                                                                           

    六、能量色散型X射线探测器和计数电路




    特点应用
    •高能量分辨率:FWHM<149eV@5.9KeV  •X射线衍射,X射线荧光分析
    •高计数率:事件计数>2x105CPS •全反射型X射线荧光分析
    •实现电动冷却,无需液氮 •分析采用同步加速器辐射
    •T08包装:便携、轻巧•EPMA,XAFS
     
    七、符合WEEE/RoHS, ELV标准





    特点应用
    •符合WEEE/RoHS、ELV 和土壤污染控制条例•分析WEEE/RoHS条例指定的6种危险物质
    •高计数率和高分辨率,能快速进行微量分析 •分析环保工业废料
    •无需液氮,有效节约运行成本 •珠宝、贵重金属等的纯度分析
                     
    八、小巧、轻便、高灵敏度分析仪,针对特定应用设计,物美价廉





    特点应用
    •重量轻至9Kg  • 贵重金属成分分析
    •节能设计,只需100V AC  (传统型的1/5)•弹头的碱含量控制 
    •合理的价格,集中于特定的功能•基于RoHS条例,分析有害重金属
     •土壤中有害重金属分析
                                      
    元素分析技术成果/高灵敏度、高精确性

           能量色散型X射线荧光光谱仪的X射线管发射出初级X射线到样品上,通过半导体探测器检测样品激发出的荧光X射线,从而对样品元素进行无损定性和定量分析。半导体探测器采用带电动冷却系统的硅漂移探测器(SDD),无需液氮冷却,结合数字信号处理器(DSP),使得测试结果具有高分辨力和高计数率。为了提高分析性能,光学激发系统设置为ZJ条件,使得半导体探测器达到了最高的能量分辨率和计数灵敏度。
     
                   •分析仪缩略图(OURSTEX 160系列)
     
             
     
    OURSTEX特点    
     
    •设备设计紧凑、重量轻
    可实现现场测量,可放置于桌上,不占空间
     
    •简单快速测量
    试样无需预处理,测量结果几分钟便可在笔记本电脑上显示
     
    •设备采用节能设计
    无需液氮冷却等,节省运行成本
     
    •环保的分析检测方法
    无需试剂,无损分析检测
     
    •实现高分辨率和高灵敏度
    结合SDD,DSP和特殊光学激发系统,实现高分辨率和高灵敏度测量
     
     
     
    •OUTSTEX 系列产品一般规格 

     分析仪原理 能量色散型X射线荧光光谱仪
     分析对象 固体、粉末、液体、薄膜
     分析元素 11Na - 92U
     样品腔环境 大气或真空(可选)
     探测器 硅漂移探测器(SDD)
     计数电路 数字信号处理器(DSP)
     分析软件 自动定性分析、带标定法的定量分析
     CPU 笔记本电脑
     选项 携带箱、便携式发电机、FP软件、打印   机、  鼠标等
    在使用OURSTEX 101FA设备之前,必须告知相关的监管部门。
    为安全和正确使用本设备,请提前仔细阅读操作手册。
    •本资料中的产品技术规格或设计,如有改动恕不另行通知。
    •由于打印效果,产品颜色可能与实际有偏差。
     

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