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手持式四探针方阻测试仪
- 品牌:北京创诚致佳
- 型号: HT-391
- 产地:北京 海淀区
- 供应商报价:面议
- 北京创诚致佳科技有限公司 更新时间:2023-02-15 16:19:18
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销售范围售全国
入驻年限第6年
营业执照已审核
- 同类产品各种 试验机(284件)
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产品特点
- HT-391手持式四探针方阻测试仪参照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84);GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》;GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》;GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,采集集成电路恒流源系统,可充电式电源系统,上下限设定。
详细介绍
HT-391手持式四探针方阻测试仪参照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84);GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》;GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》;GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,采集集成电路恒流源系统,可充电式电源系统,上下限设定。
概述:
参照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84);GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》;GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》;GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,采集集成电路恒流源系统,可充电式电源系统,上下限设定。
功能介绍:
手持式外型结构,适用于车间生产、品管抽检,外出携带测量的场所;也适用于中小型半导体材料生产企业.
参数资料:
规格型号Specification model
HT-391A
HT-391B
HT-391C
1.方块电阻范围sheet resistance
10~2.00×102Ω/□
10~2.00×103Ω/□
10~2.00×104Ω/□
2.电阻率范围resistivity
1~2×103Ω-cm
1~2×104Ω-cm
1~2×105Ω-cm
3.分辨率resolution
0.01Ω
0.01Ω
0.01Ω
4.显示读数display
液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness.
5.测试方式test mode
单电测量single electrical measurement
6.工作电源working power
5V.1000mA
7. 误差errors
≤4.5%(标准样片结果standard samples)
8.选配choose to buy
选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles.
参数资料
规格型号specification model
HT-392A
HT-392B
HT-392C
1.方块电阻范围sheet resistance
0.1~2.00×102Ω/□
0.1~2.00×103Ω/□
0.1~2.00×104Ω/□
2.电阻率范围resistivity range
0.01~2×103Ω-cm
0.01~2×104Ω-cm
0.01~2×105Ω-cm
3.分辨率resolution
0.01Ω
0.01Ω
0.01Ω
4.显示读数display
液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness
5.测试方式test mode
单电测量/ single electrical measurement
6.工作电源working power
5V.1000mA
7. 误差errors
≤4.5%(标准样片结果standard samples)
8.选配choose to buy
选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.
HT-393系列手持式方块电阻测试仪
技术参数资料
规格型号specification model
HT-393A
HT-393B
HT-393C
1.方块电阻范围sheet resistance
0.01~2.00×102Ω/□
0.01~2.00×103Ω/□
0.01~2.00×104Ω/□
2.电阻率范围resistivity range
0.001~2×103Ω-cm
0.001~2×104Ω-cm
0.001~2×105Ω-cm
3.分辨率resolution
0.001Ω
0.001Ω
0.001Ω
4.显示读数display
液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness
5.测试方式test mode
单电测量single electrical measurement
6.工作电源working power
5V.1000mA
7.误差errors
≤4.5%(标准样片结果standard samples)
8.选配choose to buy
选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针1.square probe; 2. linear probe;
3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.
HT-394系列手持式四探针电阻率测试仪
技术参数资料
规格型号model
HT-394A
HT-394B
HT-394C
1.方块电阻sheet resistance
0.001~2.00×102Ω/□
0.001~2.00×103Ω/□
0.001~2.00×104Ω/□
2.电阻率resistivity range
0.0001~2×103Ω-cm
0.0001~2×104Ω-cm
0.0001~2×105Ω-cm
3.分辨率resolution
0.001Ω
0.001Ω
0.001Ω
4.显示读数display
液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness
5.测试方式test mode
单电测量single electrical measurement
6.工作电源working power
5V.1000mA
7.误差machine uncertain errors
≤4.5%(标准样片结果standard samples)
8.选配choose to buy
选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针1.square probe; 2. linear probe;
3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.
适用范围:
1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,
3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,
4.抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,
功能描述:
1. 四探针单电测量方法
2. 液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.
3. 集成电路系统、恒流输出.
4. 提供中文或英文两种语言操作界面选择
参照标准:
1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).
2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》