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STOE 粉晶衍射仪配件_反射模式样品II

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详细介绍

产品介绍:
1.产品特点

· 利用反射模式来确定薄膜厚度,组成和界面粗糙度;

· 利用掠射实验来对薄膜进行相分析;

· 用配备数字显示的千分尺来控制样本的位置校准;

· 能够手动调节样品架的倾斜度。

 

2.适用仪器

STADI P、STADI MP


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