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布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪ContourGT-X

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产品特点

ContourGT-X 三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量,适用于实验室研究和生产过程控制。该测量系统融合了十代白光干涉(WLI)创新和设计,可在业界Z大的视场范围内提供Z高的垂直分辨率。该系统主要包括全自动化系统与生产界面,一个大型电动 XYZ 平台、扫描头的倾斜/俯仰以及一个集成气浮式防震台。ContourGT-X 专为满足Z苛刻的研发、质量保证和工艺质量控制需求而设计,提供了具有计量能力的顶级三维光学精度和测试稳定性解决方案。

详细介绍

 ContourGT-X 三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量,适用于实验室研究和生产过程控制。该测量系统融合了十代白光干涉(WLI)创新和设计,可在业界最大的视场范围内提供最高的垂直分辨率。该系统主要包括全自动化系统与生产界面,一个大型电动 XYZ 平台、扫描头的倾斜/俯仰以及一个集成气浮式防震台。ContourGT-X 专为满足最苛刻的研发、质量保证和工艺质量控制需求而设计,提供了具有计量能力的顶级三维光学精度和测试稳定性解决方案。

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