硅橡胶材料耐压击穿试验仪

硅橡胶材料耐压击穿试验仪流程（注意：在开始任何测试前请参见第7章。）电压使用的方法：方法A，快速测试法—如图1所示，从零点到击穿发生，以一定的增压速度，将均匀的电压施加到试验电极上。除非另有说明，否则将采用快速测试法。在确定增压速度时，为了使增速包含在新的规定值中，对于给定的测试样，应选择在10到20s内就发生击穿的增速。在某些场合，有必要进行1到2次的预测试，以确定增速。对于大多数材料而言，使用500V/s的增速。如果文件参考本测试方法所的增速，那么即使击穿时间偶然出现在10到20s的范围之外，也应继续采用。如果出现这种情况，应在报告中记录下失效次数。

硅橡胶材料耐压击穿试验仪如果要进行一系列测试以比较不同的材料，应采用相同的增速，尽量使平均时间保持在10到20s之间。如果击穿时间不能保持在该范围内，应在报告中说明。

12.2.2方法B，逐步测试——以合适起始电压施加到测试电极上，并按图2所示，逐步增加电压，直到发生击穿。

12.2.2.1从图2中所列的表格，可以选择起始电压Vs，在快速测试中，此电压应接近试验测定或预期击穿电压的50%。

12.2.2.2如果起始电压低于图2所列的电压，建议以起始电压的10%作为逐步增加的电压。

12.2.2.3在没有超6.1.3所规定的电压峰值的情况下，尽快得将起始电压从由零开始升高。同样的要求也适用于相邻步骤之间电压的升高。在完成初的步骤后，将电压升高到相邻步骤所需的时间应计入相邻步骤的时间中。

12.2.2.4如果在向下一步升高电压的过程发生击穿，测试样具有忍耐电压Vws，其应等于己完成步骤的电压。如果击穿发生在任何步骤持续期结束之前，测试样的忍耐电压Vws都按后完成步骤的电压计算。击穿电压Vbd用于计算绝缘强度。通过厚度和忍耐电压Vws计算出绝缘强度。（参见图2）

12.2.2.5要求在超过120s时间内，在10步中发生4次击穿。如果一组中有多个测试样发生的击穿次数少于3次，或是时间达不到120s的情况，应将起始由压降低后，重新测试。如果在12步之前或720s后仍未发生击穿，则应提高起始电压。

12.2.2.6记录下起始电压，电压增加步数，击穿电压以及击穿电压所持续的时间长度。如果失效发生在电压刚刚增加到起始电压的时候，则失效时间为0。

12.2.2.7应根据测试的目的，说明有关电压步数的其他时间长度。通常使用的时间长度为20s到300s（5分钟）。对于研究来说，在某些场合有必要对给定材料进行大于普通时间长度的测试。

12.2.3方法C，慢速测试——向测试电极施加起始电压，按图3所示增速增加电压直到发生击穿。

12.2.3.1从按12.2.1规定的慢速测试中选择起始电压。所选择的起始电压应满足12.2.2.3的要求。

12.2.3.2从有关本测试法的文件所规定的起始电压开始，以一定的电压增速增加电压。通常，所选的增速应与逐步测试的平均增速近似。

12.2.3.3如果一组有多个测试样都在不到120s内发生击穿，那么应降低起始电压或降低增速，抑或同时降低。

12.2.3.4如果一组中有多个测试样的击穿电压不到起始电压的1.5倍，则应降低起始电压。如果在大于起始电压2.5倍的电压下（以及在120s后才发生击穿），不断出现击穿，应提高起始电压。

合适的起始电压，Vs分别是0.25, 0.50, 1, 2, 5, 10, 20, 50和100kV。

图2 逐步测试电压示意图

图3 慢速测试电压示意图

ASTM D149-2009介电击穿电压试验方法

12.3击穿的标准——电介质失效或是击穿（D1711术语中所定义的）包括增加电导以限制电场的维持。在测试中，可以通过对横穿测试样厚度的目测和断裂声来清楚得判断该现象。在击穿区域内可以观察到测试样被击穿和分解。此类击穿通常为不可逆过程。重复使用电压有时会在低电压情况下（有时将低于可测量值），造成击穿，并在击穿区域内伴有其他的损坏。这类重复使用的电压常带来击穿的积极证据，可以使击穿的路径更加清晰可见。

12.3.1在某些场合，泄露电流的快速增加会造成电压源的跳闸，而没有在测试样上留下任何可视损坏。这类失效，通常与高温条件下的慢速测试有关，会造成可逆的结果，如果在重新施加电压之前将测试样冷却到其起始测试温度，就能恢复其绝缘强度。对于发生此类失效来说，电压源会在相对较低的电流条件下断开。

12.3.2在某些场合，由于闪络，局部放电，高电容测试样中的无功电流或是断路器的故障问题都会造成电压源的断开。测试中的此类间断不会造成击穿（除了闪络测试外），而发生此类间断的测试也不能视为满意的测试。

12.3.3如果断路器设置的电流太高，或是如果断路器的故障存在问题，将会造成测试样的过度燃烧。v 介质的击穿：外加电场强度超过某一临界值时，材料中形成 或存在电荷顺利通过的击穿“隧道” ，使材料破坏，介质由 介电状态变为导电状态的现象。

v 介电强度：使介质发生击穿的临界电场强度。2. 电击穿

v 固体介质电击穿的碰撞理论：

™强电场作用下，固体导带中因冷或热发射存在一些电子， 这些电子被加速，获得动能；

™高速电子与晶格振动相互作用，把能量传递给晶格；

™一定温度和场强下平衡时，固体介质有稳定的电导；

™当电子从电场中获得能量大于传递给晶格振动能量时， 电子动能越来越大；

™大到一定值，电子与晶格振动的相互作用导致电离产生 新电子，使电子数目迅速增加，电导进入不稳定状态， 发生击穿。符合标准：GB/T1408.1-2016；IEC60243-1：2013；GB/T1408.2-2016；IEC60243-2：2013；ASTM D149；GB/T1695-2005；

击穿形式:

1、电击穿

在强电场的作用下原来处于热运动状态的少数“自由电子”将沿反电场方向 定向运动。在其运动过程中不断撞击介质内的离子,同时将其部分能量转 给这些离子,当外加电压足够高是,自由电子定向运动的速度超过一定临 界值可使介质内的离子电离出次级电子,这些电子都会从电场中吸取能量 而加速,又撞击出第三级电子,连锁反应将造成大量自由电子形成 “雪 崩” ,导致介质的击穿,这个过程大概只需要10-7-10-8s的时间,因此 电击穿往往是瞬息完成的。

2、热击穿

绝缘材料在电场下工作时由于各种形式的损耗,部分电 能转变成热能,使介质被加热,若器件内部产生的热量 大于器件散发出去的热量,则热量就在器件内部积聚, 使器件温度升高,升温的结果进一步增大损耗,使发热 量进一步增多,这样恶性循环的结果使器件温度不断上 升,当温度超过一定限度时介质会出现烧裂、熔融等现 象而完全丧失绝缘能力,这就是介质的热击穿。

3、化学击穿

长期运行在高温、潮湿、高电压或腐蚀性气体环境 下的绝缘材料往往会发生化学击穿,化学击穿和材 料内部的电解、腐蚀、氧化、还原、气孔中气体电 离等一系列不可逆变化有很大的关系,而且需要相

当长时间,材料被“老化” ,逐渐丧失绝缘性能, 导致被击穿而破坏。

化学击穿的机理:

(1)在直流和低频交变电压下,由于离子式电导引起电解过程,材料中发 生电还原作用,使材料的电导损耗急剧上升, 由于强烈发热成为热化 学击穿;

(2)当材料中存在着封闭气孔时,由于气体的游离放出的热量使器件温度 迅速上升,变价金属氧化物在高温下金属离子加速从高价还原成 离子, 甚至还原成金属原子,使材料电子式电导大大增加,电导的增加反过来又 使器件强烈发热,导致终击穿。

影响抗电强度的因素:

(1)温度温度对电击穿影响不大;对热击穿影响较大,温度升高使材料的漏导电流增大,损耗增大,发热量增 加,促进了热击穿的产生;环境的温度升高使器件内部的热量不容易散发,进一步加大了热击穿倾向。 温度升高使材料的化学反应加速,促使材料老化,加快了化学击穿的进程。

(2)频率

频率对热击穿有很大的影响,在一般情况下,如果其他条件不变,则E穿与 频率w的平方根成反比,即:抗电强度的测量与应用:在特定的条件下进行,标准GB/T1408.1-2016;IEC60243-1:2013;GB/T1408.2-2016;IEC60243-2:2013;ASTM D149;GB/T1695-2005;规定了固体电工材料频击穿电压,击穿场强,耐电压的实验方法。对试样的尺寸,电极的形状,加压方式等都做了规定。

3. 热击穿

v 热击穿的本质：

™处于电场中的介质，由于介质损耗而受热；

™当外加电压足够高时，散热和发热从平衡状态转入非平 衡状态；

™若发热量比散热量多时，热量就在介质内部聚集，使介 质温度升高；

™温度升高又导致电导率和损耗的进一步增加，介质的温 度将越来越高，直至出现性破坏。

12.4测试的数量——对于特定材料，除非另有说明，否则应进行5次击穿。选择连续升压设置方法：

如是50KV电压击穿,使用量程“50”, 如是100KV电压击穿, 使用量程“100”，保护电流“5”，电极尺寸“75×25”或“25×25”，峰降电压,根据试样击穿电压大小设置,如低于5KV,可设1KV以下。

逐级升压设置方法：

设置初始电压如“5”梯度电压如“5”，梯度时间可根据具体要求设置，其他设置与连续升压设置一样。

慢速升压设置方法：

   设置和连续升压设置是一样的，不一样就是多个初始电压，如设“5”就是在5KV以下不出曲线，电压升到5KV时才出曲线。

耐压升压设置方法：

  设置和逐级升压设置是一样的，初始电压就是给试样施加的电压（根据要求添加），梯度时间就是给试样施加电压，在设定时间（根据要求设置）内，不击穿为合格。

4、做实验

油盒里注入25#变压器油，漫过上电极15～20mm，放入试样，关闭门，此时门位指示灯亮，按下高压启动此时绿灯亮，

电脑上输入试样厚度，选择升压速率50KV 0.2～2kv/s，100KV 0.5～10kv/s，任意选，

点击参数设置，选择实验方法，保存参数设置，点击实验准备一确定一开始实验，此时实验开始，直到试样击穿,步进电机归零，启点指示灯亮，实验结束，此时电脑显示的是试样击穿跌落值，数据表格里显示是实际值，点击序号2，可做下个试样，一种试样可做10个，做完实验点击左上角保存，

点击曲线分析，看实验结果，点击Word转换成Word报告，点击Excel转换成Excel各点数据。

做直流实验；

把高压变压器短路销拔出来，打开软件，双击交流实验此时直流实验变实，点击直流实验此时是做直流实验，其它设置与交流是一样的，做完实验自动放电。

ASTM D149-2009介电击穿电压试验方法

耐电压击穿试验仪

13. 计算

13.1对于每次测试而言，击穿时的绝缘强度应以kV/mm或V/mil为单位来计算，对于逐步测试而言，梯度应以未发生击穿的高电压步骤来计算。

13.2计算平均绝缘强度及标准偏差，或其他变量的测量值

耐电压击穿试验仪14. 报告

14.1报告应包含以下信息：

14.1.1测试样的鉴定。

14.1.2对每一个测试样；

14.1.2.1所测量的厚度，

14.1.2.2能承受的大电压（对逐步测试而言），

14.1.2.3击穿电压，

14.1.2.4绝缘强度（对逐步测试而言），

14.1.2.5击穿强度，及

14.1.2.6击穿的部位（电极的中心，边缘或外部）。

14.1.3对于每个样品：

14.1.3.1平均电介质承受强度（仅对逐步测试测试样），

14.1.3.2平均电介质击穿强度，

14.1.3.3变量的说明，好是标准偏差和变化系数。

14.1.3.4测试样的说明，

14.1.3.5调节和测试样的准备，

14.1.3.6环境的温度和相对湿度，

14.1.3.7环境介质，

14.1.3.8测试温度，

14.1.3.9电极的说明，

14.1.3.10电压应用的方法，

14.1.3.11如果，电流感应元件的失效标准，及

14.1.3.12测试的日期。

ASTM D149-2009介电击穿电压试验方法

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15. 精度和偏差

15.1表2总结了四个实验室和八种材料实验室间研究的结果。该研究采用同一电极体系和同一测试介质。9

15.2单一操作员精度——根据测试材料，试样厚度，电压供给方式以及控制或瞬间电压脉冲的极限，变化常数（标准差除以平均值）在1%到20％之间变化。如果就同一样品的五个测试样进行重复试验，变化常数通常不大于9%。

表2 从四个试验室总结出的绝缘强度数据A

A测试样在油中用2型电极进行测试（参见表1）。

15.3多实验室精度——在不同实验室中（或者同一实验室不同设备上）进行测试的精度是变化的。通过使用同一类型的设备，严格控制测试样的准备，电极以及测试流程，单个操作员的精度是近似的。但如果对来自不同实验室的结果进行比较，就必须评估不同实验室的精度。

9支撑数据已经归档在ASTM国际总部中，通过申请研究报告RR:D09-1026可获得这些数据。

15.4如果测试材料，试样厚度，电极结构，或环境介质不同于表1所列，或是测试设备中电流感应元件的击穿标准得不到严格控制，那么将无法达到15.2和15.3中所规定的精度，对于需要测试的材料来说，涉及本测试方法的标准应能确定该材料的精度适用范围。参见5.4~5.8以及6.1.6。

15.5使用特殊的技术和设备、使材料厚度的精度达到0.01in甚至更小。电极不能损坏试样的接触面。准确的测定击穿电压。

15.6偏差——该测试方法不能测定固有绝缘强度。测试结果取决于试样的几何形状，电极和其他可变参数，以及样品的性质，这使得很难描述偏差。

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16. 关键词

16.1击穿，击穿电压，校准，击穿标淮，介电击穿电压，介电失效，介电强度，电极，闪络，电源频率，过程控制测试，验证测试，质量控制测试，快速增加，研究测试，取样，慢速，逐步，环境介质，耐压。

附录

（非强制信息）

Xl. 绝缘强度测试的意义

X1.1 介绍

简要回顾了击穿的三种假定机制，分别是：（1）放电或电晕机制，（2）热机制，以及（3）固有机制，讨论了在原理上对实际电介质产生影响的因素，并对数据的解释提供帮助。击穿机制常常与其他机制相结合，而非单独发挥效用。随后的讨论仅针对固体和半固体材料。介电击穿的假定机制由放电造成的击穿——在对工业材料进行的许多测试中，都是由于放电造成了击穿，这通常造成较高的局部场。对于固体材料来说，放电常常发生在环境介质中，因此增加测试的区域将在电极边缘上或外侧产生击穿。放电也会发生在内部出现或生成的一些泡沫或气泡里。这会造成局部的侵蚀或化学分解。这些过程将一直持续到在电极间形成完全的失效通路为止。热击穿——在置于高强度电场时，在许多材料内的局部路径上会积聚大量的热，这将造成电介质和离子导电性能的损失，进而迅速产生热量，所产生的热量将大于所能耗散掉的热量。由于材料的热不稳定性，导致了击穿的发生。

固有击穿——如果放电或热稳定性都不能造成击穿，那么在电场强度大到足以加速电子穿过材料时，仍将发生击穿。标准电场强度被称为固有绝缘强度。虽然机制本身也许已经涉及，但本测试法仍不能测试固有绝缘强度。绝缘材料的性质固态工业绝缘材料通常是非均匀的，且含有许多不同的电介质缺陷。试样上常常发生击穿的区域，并不是那些电场强度大的区域，有时甚至是那些远离电极的区域。在应力下卷中的薄弱环节有时将决定测试的结果。 测试和测试样状况的影响因素——通常，随着电极区域的增加，击穿电压会降低，这种影响对于薄试样来说更为明显。电极的几何形状也会影响测试的结果。制作电极的材料也会对测试结果产生影响，这是因为电极材料的热导性和功函会对热机制和发电机制产生影响。通常来说，由于缺乏相关的实验数据，所以很难确定电极材料的影响。试样厚度——固体工业绝缘材料的绝缘强度主要取决于试样的厚度。经验显示，对于固体和半固体材料来说，绝缘强度与以试样厚度为分母的分数成反比，更多的证据显示，对于相对均匀的固体来说，绝缘强度与厚度的平方根互为倒数。如果固体试样能熔化后倒入到固定电极之间并凝固下来，那么电极间距的影响将很难得到明确的定义。因为在这种情况下，可以随意固定电极间距，所以习惯在液体或可溶固体中进行绝缘强度测试，此时电极间具有标准的固定空间。因为绝缘强度取决于厚度，所以如果在报告绝缘强度数据时缺乏测试所用试样的起始厚度，那么这样的数据将毫无意义。

温度——试样和环境介质的温度将影响绝缘强度，虽然对于大多数材料来说，微小的环境温度变化对材料造成影响可以忽略不计。通常，绝缘强度随温度的升高而降低，但其强度的极限取决于被测材料。众所周知，由于材料需要室温以外的条件下发挥作用，所以有必要在比期望操作温度更大的范围里，对绝缘强度与温度的关系进行确定。时间——电压应用的速率也会影响测试结果。通常，击穿电压随电压应用速率的增加而提高。这是预料之中的，因为热击穿机制有赖于时间，而放电机制也有赖于时间，虽然在一些情况下，后一种机制通过产生局部电场高临界强度造成快速失效波形——通常，应用电压的波形也会影响绝缘强度。在本测试方法的限制说明中，波形的影响是不显著的。频率——对于本测试法，在工业用电频率范围内，频率的变化对绝缘强度的影响将不是那么显著。但是，不能从本测试法所得结果中推断出其他非工业用电频率（50到60HHz）对绝缘强度的影响。

X1.4.7环境介质——通常测试具有高击穿电压的固体绝缘材料，是将试样浸入到液体介质中，例如变压器油，硅油，或是氟利昂中，以减小击穿前表面放电的影响。这已经由S.Whitehead10所揭示，为了避免固体试样在达到击穿电压前在环境介质中发生放电现象

1、试验在试验箱中进行，试验箱门打开时电源加不到高压变压器输入端，即高压侧无电压。100KV测试设备高压电极距离试验箱壁的近距离大于270mm，50KV测试设备高压电极距离试验箱壁的近距离大于250mm，试验时即使人接触箱壁也不会有危险。

2、设备要安装单独的保护地线。接保护地线，主要是减少试样击穿时对周围产生的较强的电磁干扰。也可避免控制计算机失控。

3、该试验设备的电路设有多项保护措施，主要有：过流保护、过压保护、漏电保护、短路保护、直流试验放电报警，电磁放电等。

4、直流试验放电报警功能:在设备做完直流试验时,当开启试验门时设备会自动报警,直至使用设备上的放电装置放电后报警会自动取消.(注：因为直流试验后不放电会危险到人安全,不能直接拿取电极,起到提醒使用人员放电以免造成伤害)。

5、试验放电装置，电磁铁自动放电放置。符合标准

GB1408.1-2016《绝缘材料电气强度试验方法 *部分;工频下试验、第2部分》

GBT13542.1-2009电气绝缘用薄膜*部分

GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》

GB/T  3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》1 范围

GB/T 13542的本部分规定了电气绝缘用薄膜的定义、一般要求、尺寸、检验规则和标志、包装、运

输和贮存。

本部分适用于电气绝缘用薄膜，

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T 13542的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文

件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成

协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本适用于本

部分。

GB/T 13542.2-2009电气绝缘用薄膜第2部分:试验方法(IEC60674-2:1988,MOD)

3术语和定义

下列术语和定义适用于本部分。

3.1

卷绕性windability

薄膜的卷绕性用于评定成卷薄膜的变形情况,可由偏移/弧形和凹陷两方面衡量。

3.1.1

偏移/弧形bias-camber

当薄膜平整地打开时,其边缘不呈直线(偏移或弧形)、

3.1.2

凹陷

sag

当一段薄膜由两个呈水平位置的平行辊支撑并承受一定张力的情况下,其中有部分薄膜会低于总

的水平面。接头耐热性或耐溶剂性等特殊要求应由供需双方协商。

4.4管芯

薄膜应卷在圆形管芯上,管芯在卷绕拉伸下应不掉屑、坍塌或歪扭,也不应损坏薄膜或使其性能降

低。管芯的所有性能和尺寸及其偏差由供需双方协商,管芯的优选内径为76 mm和152 mm,管芯可以

伸出膜卷的端部,或者与端部平齐。

5尺寸

5.1厚度

按GB/T 13542.2-2009第4章所述的方法测定厚度,除非在产品标准中另有规定,且测得的厚度

应在标称值±10%范围内。

5.2宽度

宽度应在产品标准中规定,按GB/T 13542.22009第6章规定的方法测定的宽度，除非产品标

准另有规定,其允许偏差应符合表1的规定。

表1薄膜宽度

单位为毫米

宽度

偏差

≤50

±0.5

>50~300

±1.0

>300~450

±2.0

>450

±4.0

5.3长度

对长度的要求由产品标准规定。

6检验规则GB/T 13542《电气绝缘用薄膜)分为以下几个部分:

一第1部分:定义和一般要求;

一一第2部分:试验方法;

一第3部分:电容器用双轴定向聚丙烯薄聩;

一第4部分:聚酯薄膜

.…。

本部分为GB/T13542的第1部分。

本部分修改采用IEC60674-1:1980《电气用塑料薄膜第1部分:定义和一般要求(英文版)。

本部分与IEC60674-1的主要技术差异如下:

1)增加了“规范性引用文件"章;

2)增加了“检验规则"章。

本部分代替GB/T 13542-1992《电气用塑料薄膜一般要求》,

本部分与GB/T 13542-1992相比主要差异如下:

1)将“引用标准”改为“规范性引用文件”

2)定义3.1.1中“偏斜”改为“偏移/弧形”。

本部分由中国电器工业协会提出。

本部分由全国绝缘材料标准化技术委员会(SAC/TC51)归口，

本都分起草单位:桂林电器科学研究所,东材科技集团股份有限公司。

本部分主要起草人:王先修、赵平。

本部分所代替标准的历次版本发布情况为:

GB/T13542-1992。

6.1薄膜应进行出厂检验和型式检验。

6.2型式检验项目为产品标准中技术要求规定的全部项目，每三个月至少进行一次。当原材料变更

或工艺条件改变时,也应进行型式检验。

6.3产品批量、抽样方法和出厂检验项目在产品标准中规定，每批薄膜应进行出厂检验,产品经检验

合格才能出厂。制造厂应保证出厂产品符合产品标准中全部技术要求。

6.4当试验结果中任何一项不符合技术要求时,应在该批薄膜另外二卷中各取一组试样重复该项试

验,如仍有一组不符合要求时,该批薄膜为不合格品。

6.5使用单位可按产品标准的全部或部分项目进行验收检验。预处理条件按GB/T13542.2-2009

中3.2要求进行。

6.6使用单位有要求时,制造厂应提供产品检验报告。

7标志、包装、运输和贮存

7.1薄膜卷要用防潮纸或塑料薄膜包裹,外层套装塑料袋,并架空支撑放置于包装箱中,使薄膜在通常

的贮存和运输条件下得到充分保护而不受损坏和变质。

7.2每箱薄膜应有明显而牢固的标志:

TVS瞬间防护技术

●  多级循环电压采集技术:

材料击穿后,瞬间放电速度约为光速的1/5~1/3,国际通用的方法为压降法进行采集击穿电压。即变压器的初级电压瞬间下降一定比率来判别材料是否击穿。显然记录击穿电压值产生偏差。而采用多级循环采集技术对击穿后的电压采集将解决此难题。

●  低通滤波电流监测技术:

高压压放电过程中将产生高频信号。而无论是国产与进口电流采集传感器,大都为工频电流传感器。而采集过程中无法将高频信号处理时,从而造成检测不准确。无论是采用磁通门或霍尔原理所设计的传感器存在击穿后瞬间输出电压或电流信号过大,从而烧坏控制系统的采集部分。华测开发的低滤波电流采集传感器将高频杂波信号进行相应处理。同流采集华测自主开发的保护模块来保证采集精度与保护采集元件。

●  双系统互锁技术及隔离屏蔽技术:

采用双系统互锁技术应用于电击穿仪器,生产的电压击穿仪器不仅具备过压、过流保护系统,它*的双系统互锁机制,当任何元器件出现问题或单系统出现故障时,将瞬间切断高压。

品名称：电压击穿试验仪

产品型号：BDJC-10KV、BDJC-50KV、BJC-100KV

产品品牌：北京北广精仪

控制方式：计算机控制

符合标准：GB/T1408、ASTM D149、IEC60243-1等

适用材料：橡胶、塑料、薄膜、陶瓷、玻璃、漆膜、树脂、电线电缆、绝缘油等绝缘材料

测试项目：击穿电压测试、介电强度测试、电气强度测试、耐电压击穿强度测试等

试验电压：10KV、20KV、50KV、100KV、150KV等

电压精度：≤1%

适用材料：绝缘材料

升压速率：10V/S-5KV/S

试验方式：交流/直流、耐压、击穿、梯度升压

控制系统：PLC控制升压

核心部件：采用进口配件

试验介质：绝缘油、空气

显示方式：曲线显示、数据打印

其它特点：无线蓝牙控制

设备组成：主机、计算机、电极

电极规格：25mm、75mm、6mm

电器容量：3KVA、5KVA、10KVA

耐压时间：0-8H

安全保护：九级安全保护

质保日期：三年、终身维护。

培训方式：工程师上门培训安装

出据证书：514所、304所、科学研究院等单位均可

主机尺寸：1000*600*1400mm、1700*600*1400mm

主机重量：100KG、200KG

北广产品保修售后服务承诺：

一、安装调试：协助试验机的安装，负责试验机的运输、调试。

二、验收标准：试验机按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。

三、培训：安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析，同时能进行基本的维护。

四、软件升级：终生免费提供新版本控制软件。

五、保修：1、设备保修两年，终身售后服务，一年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后，迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。

2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。

3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。

4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。

六、售后管理：

我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护

电压击穿试验仪安全保护措施：公司简介

 北京北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司，拥有现代化设计开发技术和先进的生产设备。积极专注于多种高性能检测设备及非标自动化设备的生产和研制，主要研发生产的产品：绝缘材料检测仪器（电压击穿试验仪、电阻率测试仪、介电常数测试仪、漏电起痕测试仪、耐电弧测试仪等）海绵泡沫检测仪器（落球回弹测试仪、压缩变形测试仪、压陷硬度测试仪、疲劳冲击试验仪），力学设备（万能试验机）等质量已领先国内先进水平。

GB/T1408绝缘材料电气强度试验方法第1部分：工频下试验

1、范围

GB/T1408的本部分规定了测量固体绝缘材料工频（即48Hz～62Hz）短时电气强度的试验方法．本部分规定了用液体和气体作为固体绝缘材料试验时的浸渍剂或周围媒质，但不适用于液体和气体的试验．

注：本部分包括测定团体绝缘材料表面击穿电压的方法．

2、规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T 1408的本部分的引用而成为本部分的条款。 凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单<不包括勘误的内容>或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成 协议的各方研究是否可使用这些文件的ZUI新版本。 凡是不注日期的引用文件，其ZUI新版本适用于本部分．

GB/T 1981. 2-2003 电气绝缘用漆第2部分：试验方法（IEC 60464“2: 2001, IDT)

GB/T 7113. 2-2005 绝缘软管 试验方法（IEC 60684-2:1997 ,MOD)