泰克 Tektronix DSA8300 供应

泰克 Tektronix DSA8300 供应

 欧阳R:13537;;;229325

Tektronix DSA8300系列提供了行业 先的小于100fs的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定， 支持光通信标准、时域反射计和S参数。DSA8300数字采样示波器为155Mb/s - 100G的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。

功能

优势

电模块信号测量准确度：

超低系统抖动（典型 <100 fs）

> 70GHz

<100 fs 本底抖动允许对高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）设备进行检定，典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定（数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波）。

所有带宽上系统噪声业内低：

600 μV 大（450 μV 典型）  60 GHz

380 μV 大（280 μV 典型） 30 GHz

大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量，避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。

单台主机内多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。

多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试，提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。

光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。

为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统，从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太网）和 100 Gb/s 以太网（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波长 850、1310 和 1550nm。

优异的采集吞吐量，采样率高 300 kS/s。

通过优异的系统吞吐量，可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。

能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。

远程采样头大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化，简化测试系统的反嵌。

的已校准通道相差校正。

双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正，消除时滞，增强多通道测量的信号保真度。

型号

模拟带宽

采样率

记录长度

模拟通道

DSA8300

DC - 80 GHz

大 300 kS/s

50 点 - 16,000 点（IConnect? 为 1M 点，80SJNB 为 10M 点）

取决于使用的采样模块，多8条通道