一、产品简介
适合测试探针需要接触到样品正面的情况，测试探针可前后伸缩和自由转动，因此使用起来灵活方便。根据探针和样品的接触状况，可选择不同材质和触点形状的探针。
二、产品参数
报价：面议
已咨询22次高低温冷热台
报价：￥555
已咨询31次冷热台
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已咨询1429次功能材料电学综合测试系统
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已咨询94次INSTEC 冷热台
报价：面议
已咨询253次冷热台
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已咨询76次液氮高低温探针台
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已咨询111次INSTEC 冷热台
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已咨询635次科学仪器产品信息
TC308型号特点： ◎ 整体不锈钢外壳，更易清洁且结实耐用，适合半导体高净间内使用； ◎ 采用大尺寸数字液晶显示和压力按键，使用体验和人机交互性能更优秀； ◎ 具有降温蜂鸣器报警功能，可使用结束时及时提醒使用者； ◎ 采用白色高温陶瓷漆喷涂加热面板，具有出色的温度均匀性的同时，更容易识别样品变化和保持清洁。
此型号冷台采用悬空隔振设计，样品台震动小于100nm。冷台体积小巧，方便与显微镜、拉曼光谱仪等设备集成。附件丰富，包括低温压电位移台、光前组件、电学接头、不同材质窗片等可供搭配。可以广泛用于半导体工业、MEMS、超导、电子学、贴电子学、物理学和材料学等领域。
1. 高精度电流输出，范围0.1uA~200mA。 2. 快速测量，塞贝克测试＜10s，zT值测量＜40s。 3. 仪器体积小巧，方便携带，可选配续航电池。 4. 功能丰富，具备Seebeck系数测量、器件ZT值、电阻测试和恒流源输出功能。 5. 软件界面简洁，操作简单，结果显示明确，便于观测。 6. 具备数据存储功能，便于历史数据对比。 7. 具备可靠的数据重复性和稳定性。
1. 高精度电流源，输出精度可达0.1μA，可测量大部分半导体材料； 2. 高精度电压源，24位ADC采集，精度可达μV级； 3. 可靠的重复性，软硬件设计多重滤波，使测量数据更稳定，确保每个实验数值均为多次测试的平均值； 4. 简约大气的外观设计，仪器连接操作简单，完成样品信息设置后
1. 变温范围广，从-190℃到1000℃全覆盖，且变温过程中升降温速率可控； 2. 兼容多种阻抗表，测试频率可根据测试需求选择不同的测量仪表； 3. 测试数据量大且完整，变温过程中持续采集，采集时间可自由选择； 4. 一次变温，可同时采集多个频率，测试效率高。
1. 变温范围广，-196℃到1200℃全覆盖，且变温过程中升降温速率可控； 2. 测试精度高范围广，电阻测量范围0.01uΩ到1200MΩ； 3. 测试数据量大且完整，变温过程中持续采集，电阻率数据每秒采集2次 。
1.可与压痕仪结合使用，用于分析材料的硬度、弹性模量等力学性能随温度的变化规律。 2.可用于半导体材料和航空材料等需要进行材料力学和温度测试的场景。
可与扫描电镜结合使用，在观察样品形貌的同时，分析不同温度下样品的成分、晶体结构等信息，从而更全面地研究材料的性能和行为。
营业执照已审核
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