热分析测试系统

1. 变温范围广，-196℃到1200℃全覆盖，且变温过程中升降温速率可控； 2. 测试精度高范围广，电阻测量范围0.01uΩ到1200MΩ； 3. 测试数据量大且...

1. 高精度电流源，输出精度可达0.1μA，可测量大部分半导体材料； 2. 高精度电压源，24位ADC采集，精度可达μV级； 3. 可靠的重复性，软硬件设计多重滤波，使测量数据更稳定，确保每个实验...

1. 变温范围广，从-190℃到1000℃全覆盖，且变温过程中升降温速率可控； 2. 兼容多种阻抗表，测试频率可根据测试需求选择不同的测量仪表； 3. 测试数据量大且完整，变温过程中持续采...

1. 高精度电流输出，范围0.1uA~200mA。 2. 快速测量，塞贝克测试＜10s，zT值测量＜40s。 3. 仪器体积小巧，方便携带，可选配续航电池。 4. 功能丰富，具备Seebeck系...