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此型号冷台采用悬空隔振设计，样品台震动小于100nm。冷台体积小巧，方便与显微镜、拉曼光谱仪等设备集成。附件丰富，包括低温压电位移台、光前组件、电学接头、不同材质窗片等可供搭配。可以广泛用于半导体工业...

1.可与压痕仪结合使用，用于分析材料的硬度、弹性模量等力学性能随温度的变化规律。 2.可用于半导体材料和航空材料等需要进行材料力学和温度测试的场景。

可与扫描电镜结合使用，在观察样品形貌的同时，分析不同温度下样品的成分、晶体结构等信息，从而更全面地研究材料的性能和行为。

1.结构紧凑体积小巧，方便和显微镜等其它仪器整合； 2.高低温范围宽广，最低到液氮温度，最高可以到1000℃； 3.位移精准，拉力最大500N，可以进行压缩、拉伸、疲劳等多种力学测试...

1.重光科技OE系列探针台，根据制冷方式分为液氮制冷和GM制冷机两种，温度范围从-260℃度到600℃可控。产品兼容低至1pA的直流信号，50GHz的高频信号以及1KV的高压信号； 2.显微镜、...

1.适合测试探针需要接触到样品正面的情况，测试探针可前后伸缩和自由转动，因此使用起来灵活方便。 2.根据探针和样品的接触状况，可选择不同材质和触点形状的探针。

1.适合电极在样品背面的情况，探针可耐受高低温环境重复使用。 2.上部观察窗口离样品距离较远，不需要进行气体吹扫来防止窗口表面结露。 3.提供外部接线盒，用于信号切换，结合外部的湿度控制模...

1.具有多面观察窗口，液氮管路和电气连接线设置在腔体外部，适合封闭的光路测试需求。 2.样品台与窗口夹角可每15°调节

样品位置可X轴、Y轴移动，也可以取消位移台，实现体积最小化。 可以通气氛或抽真空测试，可增加电学测试接头，实现光电同步测试。 外观精致小巧，结构紧凑，腔体薄而轻，适配市面上大部分的品牌的偏光显微镜...

1. 变温范围广，-196℃到1200℃全覆盖，且变温过程中升降温速率可控； 2. 测试精度高范围广，电阻测量范围0.01uΩ到1200MΩ； 3. 测试数据量大且...

1. 高精度电流源，输出精度可达0.1μA，可测量大部分半导体材料； 2. 高精度电压源，24位ADC采集，精度可达μV级； 3. 可靠的重复性，软硬件设计多重滤波，使测量数据更稳定，确保每个实验...

◎ TC304体积小巧，结构紧凑。特别适合在手套箱里使用和操作; ◎ 采用大尺寸数字液晶显示和压力按键，使用体验和人机交互性能更优秀; ◎ 具有降温蜂鸣器报警功能，可使用结束时及时提醒使用者； ...

TC308型号特点： ◎ 整体不锈钢外壳，更易清洁且结实耐用，适合半导体高净间内使用； ◎ 采用大尺寸数字液晶显示和压力按键，使用体验和人机交互性能更优秀； ◎ 具有降温蜂鸣器报警功能，可使用结...

1. 变温范围广，从-190℃到1000℃全覆盖，且变温过程中升降温速率可控； 2. 兼容多种阻抗表，测试频率可根据测试需求选择不同的测量仪表； 3. 测试数据量大且完整，变温过程中持续采...

1. 高精度电流输出，范围0.1uA~200mA。 2. 快速测量，塞贝克测试＜10s，zT值测量＜40s。 3. 仪器体积小巧，方便携带，可选配续航电池。 4. 功能丰富，具备Seebeck系...