HORIBA ICP OES Ultima Expert 高性能ICP光谱仪

HORIBA ICP OES Ultima Expert 

一款面向高难样品分析的高性能电感耦合等离子体发射光谱仪，以高分辨率、宽波长覆盖、强基体耐受性为核心优势，适配复杂基体与痕量 / 常量多元素同步分析

核心性能与设计亮点

1. 光学系统

• 1 米焦距 + 高密度全息光栅，120–320 nm 波段分辨率＜5 pm，可见区＜10 pm；可选双光栅系统，120–450 nm 达＜6 pm，有效抑制谱线干扰。

• 波长覆盖 160–800 nm，可选远紫外套件拓展至 120 nm，适配卤素等特殊元素分析。

• 独有 Total Plasma View 全等离子观测 + 径向观测，搭配 HiStab 稳定装置，兼顾低检出限与长期稳定性。

  
  

2. 基体耐受性与检测能力

• 专利护套气技术，可直接分析总溶解固体（TDS）含量达 30% 的高盐 / 高固样品，减少基体效应。

• 专利 HDD® 检测系统，单次分析覆盖亚 ppb 至百分比级浓度，动态范围达 10 个数量级，痕量与常量元素同测。

  
  

3. 软件与易用性

• 搭载 Analyst 软件，提供方法开发向导、自动谱线选择、干扰校正等功能，简化复杂样品分析流程。

• 支持自动进样与远程监控，降低操作强度，提升实验室效率。

  
  

适用场景

• 地质矿产、稀土材料、贵金属等高谱线基体样品

• 海水、卤水、废水等高盐 / 高 TDS 样品

• 半导体、高纯材料中痕量杂质分析

• 环境、食品、医药中多元素常规与应急检测

• 科研与第三方检测实验室的复杂样品全分析需求

  
  

关键参数速览

注意事项

1. 高盐样品分析前需确认护套气与炬管维护周期，避免积盐影响稳定性。

2. 远紫外分析需配套真空 / 惰性气体吹扫模块，保障卤素等元素灵敏度。

3. 建议结合样品类型选择单 / 双光栅配置，稀土等复杂基体优先双光栅方案。