雷尼绍 拉曼 SPM/AFM 联用系统

雷尼绍拉曼 SPM/AFM 联用系统核心是inVia 共焦拉曼与主流 SPM/AFM 共点同步 + 50 nm 级定位 + TERS 纳米化学分辨 + 灵活光学耦合 + 独立双操作流，主打纳米尺度形貌（AFM）- 力学 - 化学结构（拉曼）关联表征，适配二维材料、半导体、催化、生物等领域的原位纳米研究，无需转移样品即可获取多维度数据。

核心技术参数

核心优势与技术亮点

1. 共点同步，消除定位偏差（核心）

• 样品固定不动，同一微区同步采集 AFM 形貌 / 力学数据与拉曼化学指纹，避免分机联用的二次定位误差，适配原位动态过程（如纳米材料相变、催化反应）监测。

• 可选 TERS 模块，将拉曼空间分辨率从亚微米级降至 10–50 nm，实现纳米尺度化学成像，满足二维材料缺陷、纳米异质结等研究需求。

2. 高效耦合与灵活兼容

• 专用反射镜耦合臂光传输效率高，比光纤耦合更快获得高信噪比光谱；一键切换联用 / 独立模式，不影响原有 AFM/SPM 常规测试流。

• 兼容主流 SPM/AFM 品牌，无需定制改装，可复用现有设备，降低联用成本与周期雷尼绍。

3. 多维度表征与原位能力

• 可叠加 PL、力学性能（AFM）、电化学等表征，实现 “形貌 - 力学 - 化学 - 光学” 多维度关联，深化材料构效关系研究。

• 适配大气、真空、液体池等原位环境，支持生物样品活细胞观测、电池材料充放电原位监测等场景。

4. 便捷操作与数据整合

• WiRE 软件自动关联拉曼与 AFM 数据，生成关联报告；支持预设分析模板，快速完成微区扫描与多模态成像。

• 同步 / 异步采集模式可选，适配静态微区分析与动态过程追踪等不同需求。

  
  

典型应用场景

与传统分机联用的差异