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开放式架构低温测量系统-TeslatronPT Plus

面议 (具体成交价以合同协议为准)
美国Quantum Design TeslatronPT Plus 美洲 美国 2026-04-29 10:10:51
售全国 入驻:11年 等级:银牌 营业执照已审核
同款产品:超导磁体(3件)
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产品特点:

TeslatronPT Plus是在无液氦超导磁体低温系统TeslatronPT基础上推出的一款开放式架构低温集成测量系统。系统在自动化操作和oi.DECS环境控制上进行了全面重磅升级,其开源Python编程环境、便捷的仪器管理以及安全的数据采集和展示功能,为低温和强磁场条件下的先进电输运测量提供了更强的易用性、灵活性及数据可信度。

产品详情:

开放式架构低温测量系统-TeslatronPT Plus

TeslatronPT Plus是在无液氦超导磁体低温系统TeslatronPT基础上推出的一款开放式架构低温集成测量系统。系统在自动化操作和oi.DECS环境控制上进行了全面重磅升级,其开源Python编程环境、便捷的仪器管理以及安全的数据采集和展示功能,为低温和强磁场条件下的先进电输运测量提供了更强的易用性、灵活性及数据可信度。


设备特点

• 通过丰富的直通光路设计支持高输入/输出应用,定制二级插件可搭载多达128个SMA接口

• 配备分步引导式用户界面,实现系统降温和样品交换的自动化工作流程

• 基于浏览器的oi.DECS控制界面,支持带时间戳的测量数据集成

• 高性能无液氦超导磁体,可选磁场矢量旋转功能

• 采用超细Nb₃Sn超导线,通过低剩磁实现最小磁滞效应,并有效抑制低场下的磁通跳跃

• 集成变温插入杆,配备大尺寸样品腔与静态交换气体

• 样品腔与冷却回路完全隔离,有效防止堵塞


设备参数

磁体选项8 T, 12 T, 14 T 和 6-1-1 T
变温腔样品空间直径50 mm
温度范围< 1.5 K ~ 300 K
标准样品杆温度稳定性±50 mk
标准样品杆冷却时间从室温到 < 2 K (将标准样品杆装入低温变温腔中),< 2 小时


oi.DECS控制软件

oi.DECS是一款采用开放架构、支持多平台的控制软件,提供直观易用的浏览器操作界面。通过自动化控制确保结果一致性,帮助用户减少系统配置时间,更专注于实验研究。oi.DECS支持基于网络的跨平台访问,用户可通过任意浏览器在实验室或远程进行设备监控与测量操作。


恒温器控制与监控——全面掌控您的系统

通过GUI界面或API接口,用户可安全地远程调控TeslatronPT Plus的温度与磁场。常规工作流程已实现全自动化,针对需要用户输入的环节,则提供了分步操作向导。无论您是要定制通知系统,还是集成第三方仪器,oi.DECS的开放架构与QCoDeS系统驱动支持均可确保无缝兼容。


oi.DECS测量扩展模块——助您专注实验创新

完整测量解决方案(配备专用服务器)包含:

• JupyterHub:Python编程平台

• 可编辑测量模板

• 与Lake Shore M81/M91仪器实现协同优化

• 用户权限管理

• 第三方仪器无缝集成


数据采集与可视化——实时数据安全访问

通过Grafana实现温度、磁场及测量数据的可视化与导出。所有数据均带完整时间戳,支持按自定义参数展示与导出。


设备选件



测量仪器

Lake Shore M81 多通道高精度低噪声综合电学测量仪

• 与oi.DECS开放式架构测量软件完全集成

• 专为电输运测量设计的通用模块化工具

• 特有的实时采样架构实现同步源和测量

• 为科研级低电平测量应用而设计

• 兼具直流测量的精度与高达100 kHz信号的交流测量检测灵敏度


Lake Shore M91 快速霍尔测量仪

• 与oi.DECS开放式架构测量软件完全集成

• 提供完整的霍尔分析功能

• 对低迁移率材料的测量速度可提升高达100倍

• 通过最小化热漂移来提高测量准确度



接口箱
接口箱是电输运测量信号链路中的核心组件,为管理多路电信号提供了一个可靠接口,并能实现最低噪声与干扰。我们的IsoSwitch、MultiSwitch及SampleProtect系列接口箱配备多样化接地配置,全力保障信号完整性。


样品探头与支架

• 通用测量探头:具备低噪声与防静电保护特性,并与恒温器实现电气隔离

• 屏蔽线缆配置:采用屏蔽双绞线结构,可选配带驱动保护的三同轴架构

• 标准样品支架:提供LCC20、LCC40、DIL16等标准型号,支持平行或垂直于磁场的安装取向

• 样品环境选配:提供交换气体环境与真空环境两种样品腔方案

• 基础探头选件:提供基础型号探头供用户自行适配改造


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• 氦循环制冷低温恒温器,样品处于真空环境中 • 样品空间:20 mm × 5 mm (真空环境) • 温度范围:3.4 K ~ 500 K (低温可扩展至 2.7 K) • 温度稳定性:± 0.1 K • 系统降温时间:< 15 分钟 (至 3.2 K)

用于显微研究的光学低温恒温器-MicrostatHe

• 氦循环制冷低温恒温器,样品处于真空环境中 • 样品空间:20 mm × 5 mm (真空) • 温度范围:3.2 K ~ 500 K (低温可扩展至 2.2 K) • 温度稳定性:± 0.1 K • 系统降温时间:< 10 分钟 (至 3.2 K) • 液氦消耗率:< 0.45 L/hr

用于显微研究的光学低温恒温器-MicrostatN

• 恒温器类型:液氮恒温器(LN2) • 样品空间:20 mm × 2 mm • 适用样品:固体、粉末及颗粒 • 温度范围:77 K 至 500 K • 温度稳定性:± 0.5 K

用于显微研究的光学低温恒温器-Microstat系列

Microstat系列低温恒温器给用户提供了各类光路设计和光学性能特点的低温样品环境。制冷方式为真空冷媒冷却,可根据温度需求选择液氮或者液氦制冷,温度范围从低于2.2K至500K。

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在多数情况下,为确认不同参数之间的相关性,样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言,这意味着在实际操作中需要对完全相同的区域进行对比分析。

用于光谱实验的光学低温恒温器-OptistatDry TLEX

OptistatDryTLEX是一款用于光谱学测量的低温恒温器,由配有光学通路的紧凑型恒温器和闭循环制冷机组成,采用顶部换样设计。无需液体制冷剂即可将样品降温至液氦温度,提高了使用便捷性的同时降低了运行成本。配备光学窗口和测量引线拓展选件,可进行原位的光学和电学测量。

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