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共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2 使用案例

¥1000000 (具体成交价以合同协议为准)
西班牙Sensofar S lynx2 欧洲 西班牙 2026-04-17 08:34:46
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产品详情:

通过具体的使用案例,可以更直观地理解共聚焦白光干涉轮廓仪S lynx2在实际工作中的应用方式和价值。以下是几个假设的、基于常见应用场景的案例描述。

案例一:精密机械零件加工表面的质量控制

  • 场景:一家生产液压阀芯的精密加工企业,需要确保阀芯圆柱工作面的表面粗糙度达到图纸要求的Ra ≤ 0.1 μm,以保障密封性能。
  • 应用:质检员定期从生产线上抽取阀芯样品。将阀芯固定在S lynx2的样品台上,选择合适的物镜(如20X)将激光焦点对准圆柱母线方向的一个区域。由于金属阀芯表面通常经过精磨,较为光滑,选择白光干涉测量模式。设置合适的扫描范围后启动测量。数秒内即可获得该区域的三维形貌图。
  • 分析与结果:在软件中,选取符合标准的评估区域,使用面粗糙度分析功能,计算Sa(三维算术平均高度)或对应的二维轮廓参数Ra。软件可自动生成报告,显示测量值、是否在规格限内,并可记录历史数据用于统计过程控制(SPC)。如果发现粗糙度超标,可以及时反馈调整磨削工艺参数。
  • 案例二:半导体晶圆薄膜厚度均匀性检查
  • 场景:在半导体制造中,一片晶圆上沉积的二氧化硅薄膜厚度需要控制在100nm ± 5nm,且要求整片均匀性良好。
  • 应用:工艺工程师在沉积后,选取测试晶圆(或产品晶圆上的测试图形区域)。在薄膜边缘或特定测试结构上,存在一个清晰的台阶,裸露了下层硅衬底。使用S lynx2,选择干涉模式和高倍物镜(如50X),精确扫描这个台阶区域。
  • 分析与结果:软件自动识别台阶的上下表面,并计算出精确的台阶高度,即薄膜厚度。通过在晶圆上选择多个点位(如中心、左、右、上、下)进行测量,可以快速评估薄膜厚度的平均值和均匀性(厚度变化范围)。这些数据用于监控沉积设备的稳定性。
  • 案例三:新材料涂层研发与性能关联分析
  • 场景:研发人员开发一种新的耐磨涂层,希望研究不同喷涂工艺参数(如喷涂压力、距离)对涂层表面形貌和耐磨性的影响。
  • 应用:制备多组不同工艺参数下的涂层样品。使用S lynx2的共聚焦模式(因为涂层表面通常为漫反射)测量各组样品的表面三维形貌。然后,对所有样品进行标准化的摩擦磨损试验。
  • 分析与结果:对磨损前后的表面分别进行测量。通过软件计算磨损区域的体积损失,量化耐磨性。同时,分析磨损前原始表面的三维粗糙度参数(如Sa, Sz)和功能参数(如表面支承面积比曲线)。将表面形貌参数与磨损体积数据进行关联分析,可以发现例如“适中的Sa值和较高的核心材料比可能对应更好的耐磨性”等规律,从而指导优化喷涂工艺参数。
  • 案例四:显示屏面板缺陷检测与分类
  • 场景:触摸屏面板制造商需要检测ITO(氧化铟锡)导电线路上的缺陷,如划痕、凹坑或异物。
  • 应用:将面板样品置于S lynx2下,用低倍物镜(如5X)快速扫描定位可疑区域,再切至高倍物镜(如20X或50X)进行精细测量。对于光滑的ITO表面,可采用白光干涉模式。
  • 分析与结果:获得缺陷区域清晰的三维形貌。可以精确测量划痕的深度和宽度、凹坑的深度和直径、异物的高度和尺寸。根据这些量化数据,可以对缺陷进行自动或手动的分类(如轻微划痕、严重凹坑等),判断是否超出接受标准,并追溯缺陷产生的可能工序。
  • 案例五:微光学元件阵列形貌验证
  • 场景:生产微透镜阵列用于光束匀化,每个微透镜的曲率半径和高度一致性对光学性能至关重要。
  • 应用:使用S lynx2的高倍物镜(如50X)测量单个微透镜,或使用大范围拼接功能测量整个阵列。选择适合透明聚合物或玻璃材料的测量模式(可能需要调整光源和参数)。
  • 分析与结果:三维形貌图清晰显示每个微透镜的球冠形状。利用软件中的“球面拟合”或“曲面拟合”工具,可以自动计算每个透镜的曲率半径和矢高(高度)。软件可对阵列中多个透镜的测量结果进行统计分析,计算平均值、标准差、极差,验证加工的一致性和是否符合设计公差。
  • 这些案例展示了S lynx2如何将表面的微观形貌转化为具体的、可量化的数据,服务于质量控制、工艺监控、研发优化和失效分析等多个具体场景,帮助用户做出基于数据的判断和决策。

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