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XRF镀层测厚仪FT110A
- 品牌:日立
- 型号: FT110A
- 产地:亚洲 日本
- 供应商报价:面议
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日立分析仪器(上海)有限公司
更新时间:2024-07-17 10:48:57
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销售范围售全国
入驻年限第10年
营业执照已审核
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产品特点
- FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合Z高标准。
详细介绍
产品介绍:
FT110A | 台式XRF镀层测厚仪
高通量镀层分析FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最 高标准。准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足最 高的行业电镀规范。产品亮点
专为高通量生产而设计,来看 FT110A 如何支持您的质量控制。
强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
对成品安全的无损检测
自动化功能提高生产力
分析多达四层和基材,加上电镀液
易于非专业操作员使用
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
大样品舱可容纳各种样品
可定制的选项以适合您的应用
FT110A
元素范围
Ti – U
探测器
正比计数器系统
样品舱设计
开闭式或开槽式
准直器数量
2 或 4
最 小准直器
0.025 x 0.4 mm
XY轴样品台选择
程控或固定
XY轴样品台行程
250 x 200 mm
程控Z轴行程
150 mm
最 大样品尺寸
500 x 400 x 150 mm
样品聚焦
聚焦激光和可选的自动聚焦
样品视图
摄像头视图和可选的第二广角摄像头
测量点识别
可选
软件
X-ray Station