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DLI-400日光积分测量仪
- 品牌：美国Apogee
- 型号： DLI-400
- 产地：美洲 美国
- 供应商报价：面议
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云生科技(北京)有限公司
更新时间：2023-04-14 16:23:22 -
销售范围售全国
入驻年限第4年
营业执照已审核
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详细介绍
用途：Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射（PAR），是一种低成本的选择，只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性；除了测量PAR，DLI-400测量仪还可以计算每日光积分（DLI）和光周期。
DLI-400测量仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中，它显示DLI测量值、光照时间和哪一天收集的数据（最多99天以前）。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。
技术参数：
测量重复性
小于 0.5 %
测量范围
0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹
长期漂移
每年少于 2%
视野
180°
光谱测量范围
(± 5 nm)370 至 650 nm（仅限阳光）
余弦响应
± 5 % 在 75˚ 天顶角
响应时间
2.5 秒
测量频率
3分钟
数据记录容量
99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值）
非线性
小于 1 %（最高 4000 µmol mˉ² sˉ¹）
存储数据分辨率 (PPFD)
0.1 µmol mˉ² sˉ¹（≥1000时屏幕不显示小数）
存储数据分辨率 (DLI)
0.1 mol mˉ² 天ˉ¹
存储数据分辨率（光周期）
0.1小时
连接性
Type--C 数据传输的 CSV 文件
ADC 分辨率
24 位
操作环境
-10 至 60 ℃；0 至 100 % 相对湿度
电池寿命
6个月
重量
67g
沪公网安备 31011502008050号