二手费舍尔 XMDVM-T7-W 膜厚仪

菲希尔 XMDVM - T7 - W 是 FISCHERSCOPE X - Ray 系列的台式 X 射线荧光（XRF）膜厚仪，采用能量色散 XRF 技术，适配电子、汽车、电镀等行业的批量金属镀层厚度与合金成分无损测量，支持单层 / 多层金属镀层（含合金层）分析，配合 WinFTM 软件与 XYZ 自动平台实现高效质检。

核心参数与性能

核心功能与优势

1. 批量高效测量：XYZ 自动平台可实现无人值守批量测试，视频定位快速精准，大幅提升质检通量，适配产线高频次抽检 / 全检。

2. 多镀层精准分析：能测单镀层、二元 / 三元合金镀层、多层复合镀层，可同时给出厚度与成分数据，适合复杂电镀体系（如电子连接器 Au/Ni/Cu 多层镀层）。

3. 微小区域适配：小光斑准直器可测微小结构，解决传统 XRF 光斑过大无法测精细特征的问题。

4. 数据可靠可控：软件支持方法锁定、审计追踪，无标样测量模式可应对未知基材样品，结果可追溯。

典型应用场景

• 电子制造：PCB 焊盘、连接器触点的 Au/Ni/Pd、Sn - Pb/Sn - Ag - Cu 镀层厚度与成分检测。

• 汽车零部件：紧固件、接插件的镀锌 / 镀镉层厚度与均匀性测量。

• 电镀行业：批量工件的镀层质量管控，确保符合客户与行业标准。

• 精密机械：小型轴类、模具配件的硬铬 / 镍磷镀层厚度检测。