-
-
硅 Si 高性能雪崩光电二极管(APD) 400-1000nm 0.5mm TO-18
- 品牌:上海筱晓
- 型号: C30902EH
- 产地:黄浦区
- 供应商报价: 面议
- 筱晓(上海)光子技术有限公司 更新时间:2024-04-23 09:11:37
-
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品Si硅光电二极管(17件)
-
为您推荐
- 详细介绍
总览C30902EH高性能硅雪崩光电二极管(APD)的感光面直径为0.5 mm,适合于生物医学和分析应用。 这种Si APD设计为双扩散“穿透式”结构,可在400和1000 nm之间提供高响应度,以及在所有波长处都极快的上升和下降时间。
器件的响应度与ZG约800 MHz的调制频率无关。探测器芯片采用经过修改的TO-18封装,密封在平玻璃窗后面。
多型号C30902EH/C30902EH-2 C30902SH C30902SH-TC
光谱响应400-1100nm感光规格0.5mm Ø技术参数C30902和C30921系列
用于微光应用的高速固态探测器
C30902EH系列雪崩光电二极管非常适合广泛的应用,包括激光雷达、测距、小信号荧光、光子计数和条形码扫描。
Excelitas Technologies的C30902EH系列雪崩光电二极管采用双扩散“穿透”结构制造。这种结构在400到1000纳米之间提供了高响应度,并且在所有波长上都提供了极快的上升和下降时间。该器件的响应度与高达800 MHz的调制频率无关。探测器芯片密封在一个改进的TO-18封装的平板玻璃窗后面。感光表面的有效直径为0.5 mm。
C30921EH封装在TO-18光管中,该光管允许从聚焦点或直径高达0.25 mm的光纤将光有效耦合到探测器。密封的TO-18封装允许光纤与光管端部匹配,以ZD限度地减少信号损失,而无需担心危及探测器稳定性。C30902EH-2或C30902SH-2(带内置905nm通带滤波器的密封TO-18封装)和C30902BH(带密封球透镜)构成了C30902系列。
C30902SH和C30921SH均选用具有极低噪声和体暗电流的C30902EH和C30921EH光电二极管。它们适用于超微光级应用(光功率小于1 pW),可在增益高达250或更高的正常线性模式(Vr
Vbr)下的光子计数器使用,其中单个光电子可触发约108个载波的雪崩脉冲。在这种模式下,不需要放大器,单光子检测概率可能高达约50%。 光子计数在门控和符合技术用于信号检索的情况下也是有利的。
主要特征
高量子效率:在830 nm时为77%
C30902SH和C30921SH可在盖革模式下运行
C30902EH/SH-2型,带内置905 nm过滤器
C30902BH型,带球形透镜
密封包装
室温下的低噪音
高响应度–内部雪崩增益超过150
光谱响应范围- (10%Q.E.点)400至1000纳米
时间响应–通常为0.5纳秒
宽工作温度范围-40°C至+70°C
符合RoHS标准
应用
•激光雷达
•测距
•小信号荧光
•光子计数
•条形码扫描
表1。电光特性
测试条件:外壳温度=22˚C,除非另有规定,请参见下页的注释。
C30902EH/C30902EH-2
C30902SH
C30902SH-TC
Detector Type
C30902BH
C30921EH
C30902SH-2
C30921SH
C30902SH-DTC
Parameter
Min
Typ
Max
Min
Typ
Max
Min
Typ
Max
Units
感光区
有效直径
0.5
0.5
0.5
mm
active area
0.2
0.2
0.2
mm²
光管特性(C30921)
光管数值孔径
0.55
0.55
[no units]
岩芯折射率(n)
1.61
1.61
[no units]
芯径
0.25
0.25
mm
Field of view α (see Figure 15)
视野α(见图15)
带标准/球形透镜窗口
(-2)内置905 nm滤光片
90
55
90
55
122
N/A
Degrees
带灯管(在空气中)
33
33
N/A
Field of view α’ (see Figure 15)
带标准窗口/球透镜
114
114
129
Degrees
(-2)内置905 nm滤光片
78
78
N/A
击穿电压, Vbr
225
225
225
V
反向偏置温度系数,
Vr,恒定增益电压
0.5
0.7
0.9
0.5
0.7
0.9
0.5
0.7
0.9
V/˚C
探测器温度(见注2)
-TC
0
˚C
-DTC
-20
˚C
Gain (see note 1)
150
250
250
响应度
830 nm时(不适用于-2)
70
77
117
128
128
A/W
at 900 nm
55
65
92
108
108
A/W
量子效率
at 830 nm (not applicable for -2)
77
77
77
%
at 900 nm
60
60
60
%
Dark current, id
15
30
15
30
15
30
nA
-TC (at 0 °C)
2
nA
-DTC (at -20 °C)
1
nA
Noise current, in (see note 3)
-TC (at 0 °C)
0.23
0.5
0.11
0.2
0.04
pA/ÖHz
pA/ÖHz
-DTC (at -20 °C)
0.02
pA/ÖHz
电容
1.6
2
1.6
2
1.6
2
pF
Rise/Fall time, RL=50 Ω
10% to 90% points
0.5
0.75
0.5
0.75
0.5
0.75
ns
90% to 10% points
0.5
0.75
0.5
0.75
0.5
0.75
ns
ZD驱动电流
-TC
1.8
A
-DTC
1.4
A
ZD偏置电压
-TC
0.8
V
-DTC
2.0
V
5%光子检测时的暗计数率
probability (830 nm)
(see Figure 9 and note 4)
5000
15000
1100 (-TC)
250 (-DTC)
15000
cps
电压高于Vbr,光子探测概率为5%(830nm)
(见图7和注4)
2
2
V
5%光子检测时的脉冲比后
概率(830nm)(注5)
2
15
2
%
1.在特定直流反向工作电压下,Vop或Vr,随每个装置提供,光斑直径为0.25 mm(C30902EH,SH)或0.10 mm(C30921EH,SH)。在180至250V的电压下运行,设备将满足上述电气特性限制。
2.热敏电阻的温度(开尔文)可为
使用以下方程式计算:[] = ,
项次(/∞)
式中,R是测量的热敏电阻电阻,单位为Ω,
= 3200,R0=5100Ω,T0=298.15 K和r∞ =
− R e ≅ 0.1113
表2–ZD额定值
1.雪崩光电二极管中散粒噪声电流的理论表达式为in=(2q(Ids+(IdbM²+PORM)F)BW)½,其中q是电子电荷,Ids是暗表面电流,Idb是暗体电流,F是过量噪声系数,M是增益,PO是器件上的光功率,BW是噪声带宽。对于这些装置,F=0.98(2-1/M)+0.02 M(参考文献:PP Webb,RJ McIntyre,JJ Conradi,“RCA审查”,第35卷第234页,(1974年))。
2.C30902SH和C309021SH可在更高的检测概率下运行。(参见盖革模式操作部分)。
3.主脉冲后1µs至60秒发生脉冲后。
Parameter
Symbol
Min
Max
Units
储存温度
TS
-60
100
°C
工作温度
Top
-40
70
°C
Soldering for 5 seconds (leads only)
焊接5秒钟(仅限引线)
260
°C
室温反向电流
平均值,连续运行
200
µA
峰值(1s持续时间,非重复)
1
mA
室温正向电流
平均值,连续运行
IF
5
50
mA
mA
峰值(1s持续时间,非重复)
60
mW
电光特性 图1–22°C外壳温度下的典型光谱响应度
图2–典型量子效率与波长的关系,作为外壳温度的函数
图3–830nm处的典型响应度与工作电压(作为外壳温度的函数)
图4–典型噪声电流与增益
图5–典型暗电流与工作电压
外壳温度为22°C
图6–典型增益–作为增益函数的带宽乘积
外壳温度为22°C
图7–盖革模式,830nm处光电子探测概率作为高于Vbr电压的函数
外壳温度为22°C
图8–盖革模式下C30921SH的载重线
图9– 5%光子探测效率(830nm)下的典型暗计数与温度
图10–有源淬火电路中下一个100ns内的后脉冲概率与延迟时间
(典型用于Vbr下的C30902SH和C30921SH,外壳温度为22°C时)
包装图纸(其他包装可根据要求提供)
图11–C30902EH和C30902SH,参考尺寸以毫米(英寸)为单位
图12–C30921EH和C30921EH,灯管的包装轮廓和剖面,参考尺寸
以毫米[英寸]为单位显示
图13–C30902EH-2和C30902SH-2所示参考尺寸,单位为毫米[英寸]
图14–C30902BH,参考尺寸以mm为单位
图15–C30902SH-TC/-DTC,TO-66,带法兰轮廓,参考尺寸以毫米(英寸)为单位
图16–近似视野–C30902和C30921系列
角入射辐射≤ /2、感光面完全发光。
入射辐射角度>/2,但是≤ /2、感光面部分发光
“-TC”和“-DTC”TE冷却版本
TE冷却的APD可用于不同的原因(图15)。大多数应用程序得益于-TC(单)或-DTC(双)版本,
原因有二: 1.如前所述,降低用于非常小信号检测的热噪声。TC版本设计用于将APD运行至0C而-DTC版本可在-20下运行C当环境温度为22℃时C
2.无论环境温度如何,保持恒定的APD温度。由于APD击穿电压随温度降低而降低,TE冷却器允许单一工作电压。此外,这种配置允许在扩展的环境温度范围内保持恒定的APD性能。 装置内的热敏电阻可用于监测APD温度,并可用于实施TE冷却器反馈回路,以保持APD温度恒定或/和对APD偏置电压进行温度补偿。需要一个合适的散热器来散热APD和TE冷却器产生的热量。 定制设计 认识到不同的应用程序有不同的性能要求,Excelitas为这些APD提供了广泛的定制,以满足您的设计挑战。暗计数选择、自定义设备测试和打包是许多应用程序特定的解决方案之一 盖革模式操作 当偏置电压高于击穿电压时,雪崩光电二极管通常会传导大电流。但是,如果电流限制在小于特定值(约50A对于这些二极管),电流不稳定,可以自行关闭。对这一现象的解释是,在任何时候,雪崩区的载流子数量都很小,而且波动很大。如果数字恰好波动到零,电流必须停止。If随后保持关闭状态,直到雪崩脉冲被大块或光生载流子重新触发。 选择“S”型以产生小批量暗电流。这使得它们适用于盖革模式下低于VBR的低噪声操作或高于VBR的光子计数。在这种所谓的盖革模式中,单个光电子(或热产生的电子)可触发雪崩脉冲,使光电二极管从其反向工作电压Vr放电到略低于VBR的电压。该雪崩发生的概率如图7所示为“光电子检测概率”,可以看出,它随着反向电压Vr的增加而增加。对于给定的Vr Vbr值,光电子探测概率与温度无关。为了确定光子探测概率,需要将光子探测概率乘以量子效率,如图2所示。量子效率也相对独立于温度,除了在1000 nm截止附近。
“S”型可在盖革模式下使用“无源”或“有源”脉冲熄灭电路。下面讨论每种方法的优缺点。
无源熄灭电路 最简单的,在许多情况下是一种完全合适的熄灭击穿脉冲的方法,是通过使用限流负载电阻器。这种“被动”淬火的示例如图17所示。电路的负载线如图8所示。要在Vbr下处于导通状态,必须满足两个条件: 1.雪崩必须由进入二极管雪崩区的光电子或体产生的电子触发。(注:硅中的空穴在开始雪崩时效率很低。)上面讨论了触发雪崩的概率。
2.为了继续处于导电状态,必须有足够大的电流(称为闭锁电流ILATCH)通过器件,以便在雪崩区域始终存在电子或空穴。通常在C30902SH和C30921SH中,ILATCH=50A.对于远大于ILATCH的电流(Vr Vbr)/RL,二极管保持导通。如果电流(Vr Vbr)/RL远小于ILATCH,则二极管几乎立即切换到非导通状态。如果(Vr Vbr)/RL近似等于ILATCH,则二极管将在任意时间从导通状态切换到非导通状态,这取决于雪崩区域中的电子和空穴数量统计波动到零的时间。 当RL较大时,光电二极管正常导通,且在非导通状态下工作点位于Vr IDSRL。雪崩击穿后,该器件以时间常数RLC重新充电至电压Vr-IDSRL,其中C是包括杂散电容在内的总器件电容。使用C=1.6 pF和RL=200 k 充电时间常数为0.32s是计算出来的。上升时间很快,为5到50ns,随着Vr-Vbr的增加而减少,并且非常依赖于负载电阻器、引线、电容器的电容,
图17–无源淬火电路示例
主动淬火电路
在C30902SH充电之前,检测到另一个入射光电子的概率相对较低。为避免在高于Vbr的大电压下运行时出现过多死区,可使用“主动淬火”电路。在检测到雪崩放电后,电路会暂时将偏置电压降低几分之一微秒。这个延迟时间允许收集所有电子和空穴,包括那些暂时“捕获”在硅中不同杂质位置的电子和空穴。当重新施加更高的电压时,耗尽区中没有电子触发另一次雪崩或锁定二极管。通过一个小的负载电阻,充电可以非常迅速。或者,可以保持偏置电压,但负载电阻器由晶体管替换,该晶体管在雪崩后短时间保持关闭,然后开启一段足以对光电二极管充电的时间。
定时分辨率
对于光子计数应用,当在曲线上绘制并平均半高宽时,检测到光子后TTL触发脉冲的时间是计时分辨率或时间抖动。半电压点处的抖动通常与上升时间的数量级相同。对于必须具有最小抖动的定时目的,应使用上升脉冲的ZD可能阈值。
脉冲后
后脉冲是继光子产生的脉冲之后并由其诱导的雪崩击穿脉冲。后脉冲通常由雪崩期间通过二极管的大约108个载波之一引起。如前所述,该电子或空穴被捕获并捕获在硅中的某个杂质位置。当这个电荷载体被释放时,通常在不到100纳秒但有时几毫秒之后,它可能会开始另一次雪崩。使用图17所示的电路,在高于Vbr 2伏时,超过1微秒后出现后脉冲的概率通常小于1%。
后脉冲随偏压的增大而增大。如果需要减少后脉冲,建议将Vr Vbr保持在低水平,使用具有长延迟线的主动淬火电路,或具有长RLC常数的被动淬火电路。杂散电容也必须最小化。在某些情况下,可以对信号进行电子选通。如果在特定应用中后脉冲是一个严重的并发症,可以考虑在Vbr以下使用良好的放大器进行操作。
暗电流
已选择“S”版本以具有较低的暗计数率。冷却至-25由于暗计数率对温度的依赖性是指数性的,因此C可以将其降低约50倍。
暗计数随着电压的增加而增加,其曲线与光电子检测概率相同,直到电压在脉冲后产生反馈机制,从而显著增加暗计数率。该ZD电压取决于电路,除表1中列出的值外,不受保证。在大多数情况下,延迟时间为300纳秒,二极管可在高达Vbr+25V的电压下有效使用。
C30902不应向前偏置,或者在无偏置时,不应暴露在强照明下。这些条件导致暗计数大大增强,可能需要24小时才能恢复到其标称值。
RoHS合规性
C30902和C30921系列雪崩光电二极管的设计和制造完全符合欧盟指令2011/65/EU–限制在电气和电子设备中使用某些有害物质(RoHS)。
担保
装运后的标准12个月保修适用。如果光电二极管窗口已打开,则任何保修均无效。
关于Excelitas Technologies
Excelitas Technologies是一家技术,致力于提供创新的定制解决方案,以满足OEM客户的照明、检测和其他高性能技术需求。
从PerkinElmer、EG&G和RCA开始,Excelitas在45年多的时间里一直为我们的OEM客户群提供光电传感器和模块服务。我们始终致力于创新,致力于为客户提供ZY质的解决方案。
从航空航天和国防到分析仪器、临床诊断、医疗、工业以及安全和安保应用,Excelitas Technologies致力于帮助我们的客户在其专业终端市场取得成功。Excelitas Technologies在北美、欧洲和亚洲拥有约3000名员工,为客户提供服务。
- 产品优势
- 感光面积:0.2mm²
感光直径:0.5mm
击穿电压:225V
结电容:1.6pF
暗电流:15nA
增益:150
噪声电流:0.23pA/√Hz
封装:TO-18,平面窗口
峰值灵敏度波长:830 nm
响应时间:
响应度:
在830 nm为77 A/W
在900 nm处为65 A/W
上升/下降时间:0.5ns
温度系数:0.7V/°C
波长:400-1100nm
- Dionex™ ICS-PDA二极管阵列检测器
- 徕卡荧光发光二极管激发光源 Leica SFL4000
- 徕卡 荧光发光二极管激发光源 Leica SFL4000
- 德国徕卡 带软件控制装置的荧光发光二极管激发光源 Leica SFL7000
- 带软件控制装置的荧光发光二极管激发光源 Leica SFL7000
- 滨松硅光电二极管 S13956-01
- 滨松硅光电二极管 S12698-02
- 滨松硅光电二极管 S12698-01
- InGaAs PIN光电二极管 G12183-203K
- 安捷伦氘灯,用于 Waters 996、2996/Acquity 2996 光电二极管阵列检测器,2000
- 钨灯,Agilent G131/B/C/D 和 G136/B/C/D 二极管阵列检测器,以及 8453A 二
- 长寿命氘灯,用于 Agilent 1100/1200 二极管阵列检测器