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phasics SID4波前传感器

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详细介绍

phasics SID4波前传感器

基于Phasics四波横向剪切干涉专·利技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率(160x120测量点),且使用简便。

特点:

由于其独特的专·利技术技术,Phasics的SID4波前传感器具备以下特点:

1.超高分辨率:160x120测量点

2.直接测量发散和准直光束

3.从400到1100nm消色差

4.自校准:振动不敏感和容易对齐

5.紧凑,体积小

 应用:

SID4波前传感器提供新的可能性应用:

激光:光束诊断、自适应光学

光学:精密透镜测试和表面测量

生物学:显微自适应光学

 SID4产品参数:

波长范围

400 - 1100 nm

通光孔径

3.6 x 4.8 mm2

空间分辨率

29.6 µm

采样点(相位/强度)

160 x 120 (> 19 000 points)

相位相对灵敏度

< 2 nm RMS

相位精度

10 nm RMS

动态范围

> 100 µm

采样频率

> 60 fps

实时分析频率

> 10 fps (full resolution)

数据接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

54 x 46 x 75.3 mm

重量

~250 g



产品优势
基于Phasics四波横向剪切干涉专·利技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率(160x120测量点)
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