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德国布鲁克 电子显微镜分析仪器 SEM QUANTAX EDS
- 品牌：德国布鲁克
- 型号： SEM QUANTAX EDS
- 产地：德国
- 供应商报价： 面议
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布鲁克纳米分析部
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企业性质
入驻年限第2年
营业执照
- 同类产品EDS、WDS、EBSD、SEM Micro-XRF(4件)
联系方式：孙小姐010-58333171
联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!
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- 详细介绍
产品介绍：
1,000,000cps有效输出计数可达 1,000,000 cps无与伦比的分析速度
> 2,200 条元素谱线包含所有 K，L，M 和 N 线系的全系原子数据库，可以对复杂的数据进行定量分析
> 1.1 sr更大的采集立体角优化的几何结构，更快的采集速度，更高的测试效率
用于 SEM, FIB-SEM 和 EPMA 的能量分散谱仪
布鲁克的最 新一代 QUANTAX EDS XFlash® 7 能谱探头具有最 大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。
XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。
XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案，此外，独特的 XFlash® FlatQUAD 为一些高难度样品提供了更好的解决办法。
Slim-line 技术，大立体角设计，最 新一代脉冲处理器，以及维护预警系统使系统运行时间达到最 大化。
更好的能量分辨率和采谱性能。
精致的定量算法，独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。
高效的元素分析
每一套EDS系统都独立进行优化，保证以更快的速度得到更精确的结果。
更大的输出计数率使测量时间大大缩短，可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。
优化的结构设计，可以分析各种高难度的样品。
优化的设计降低了背底和吸收的影响，使定量结果更为准确可靠。
更低的背底和吸收使检测限更小，可以检测到更低含量的元素。
一体化的 ESPRIT 软件平台将EDS, WDS, EBSD 和 微区-XRF 无缝组合，成为一个综合的分析平台，可用于所有的 SEM, FIB-SEM 以及 EPMA。
SEM 元素分析在不同领域的应用
- 产品优势
- XFlash® 7 - 最新 EDS 探头系列
优化的设计
更好的分析
快速、精准、可靠
