德国布鲁克 电子显微镜分析仪 QUANTAX WDS

产品亮点：

补充您的 SEM：使用电子探头微分析仪的好处

• 用于 SEM 的 QUANTAX WDS由 XSense 波长分散光谱仪组成，在所有平行光束 WDS 系统中实现最 佳分辨率。与基于罗兰圆的 WDS 光谱仪相比，QUANTAX WDS 由于平行光束设计，可以实现大固体角采集，为低能 X 射线提供更高的信号强度
  

• WDS 通过抑 制背底辐射的独特二次光学器件进一步增强信噪比

• QUANTAX WDS 配备最 好的掠入角光学元件和多达六个分析晶体，对 70 eV 以上的低能量 X 射线具有卓 越的灵敏度

• 巧妙的自动光学对准系统和独特的压力控制比例计数器可确保准确且可重复的结果

• 灵活适应 WDS 或 EDS 端口

• 解决常见的 EDS 峰值重叠，如 Ta-W-Si、Pb-S 或 Mo-S

• 探索感兴趣的元素的低能 X 射线线系（L、M、N）

• 研究低加速电压的样品，确保电子束穿透深度最 小

• 获得 最 高的 cps/nA，因为高固体角使轻元素在整个浓度范围内从 Be 到 F 进行表征

• 得到远远低于 EDS 检测限值的痕量元素浓度

• 可以在低真空下测量，无需导电涂层

• 使用独特的压力控制比例计数器，节省分析测量时间

• 确保光谱数据的空间精度，进行精确定量

• 通过同时进行 WDS 和 EDS 分析，将每个探测器的优势整合到组合定量中，节省采集时间

您的分析挑战是什么？

半导体微芯片材料的元素识别

斜长石中痕量元素的面分布

解析硫化物矿物中的 X 射线重叠峰

铅酸电池的硫酸盐变化

钢铁中碳的分布图