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量子效率测定系统QE-2000

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产品特点

量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率（量子产额）的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作，可以在短时间内完成试料的测量及解析。

QE-2000 使用高精度测量仪（注1），利用激发光和荧光的光量子数求得量子效率（量子产额），从而实现JD的高精度测量。

此前方法		QE2000
粉剂试料	用配光法（测量空间分布）测量	使用积分半球测量	•操作简单 •短时间内即可测出 •装置简单精巧 •不需要暗室
粉剂试料	量子效率（量子产额）对比测量已知试料与对象试料	只测量对象试料使用积分半球测量	•短时间内即可测出 •不需要其他准备测试（吸光度测试等） •不需要已知试料的量子效率（量子产量），不依赖于已知试料的精度

注1：根据计量法校正企业登录制度（JCSS），按照国家标准可追踪标准光源进行校正。

量子效率（量子产额）的测量示意图

参考值以及样品的激发光、荧光光谱的测量示例

注2：荧光体试料所吸收的光量子数

量子效率测定系统QE-2000的优点

实现JD测量的大塚电子专注于以下3 点。

专注于高精度测量

专注于简单操作

专注于全面测量

- 测量量子效率（量子产额）

- 测量激发波长依赖性

- 测量发光光谱

- 测量PL 激发光谱

- 测量EEM（Excitation Emission Matrix）

应用领域

量子效率测定系统QE-2000产品规格

样式	3683c		311c		2580c			3095c
测量波长范围	360~830nm		360~1100nm		250~800nm			300~950nm
1 像素的波长宽度光接收像素CH 数	1.0nm	0.5nm	1.6nm	0.8nm	1.2nm		0.6nm	1.4nm	0.7nm
	512ch	1024ch	512ch	1024ch	512ch		1024ch	512ch	1024ch
像素	电子冷却式CCD 图像传感器
位深	16 位
分光器光学配置	背底（flatfield）型F=3,f=85.8mm
激发光源
光源	150W Xe 灯
激发波长	250~800nm
带宽	FWHM 5nm/Slit 0.6mm
样品抗光降解	自动关闭装置
激发波长控制	自动控制
积分球
材质	Spectralon（美国Labsphere 公司ZL材料名无中文）
尺寸	150mm 半球(HalfMoon)
样品固定治具
粉剂测量固定治具	SUS304 制，无石英盖
溶液测量用固定治具（常温）	石英制溶液容器（开放型）
功耗
电源电压	AC100~120V/AC 200~230V
软件
	量子效率（量子产额）测量量子效率（量子产额）的激发波长依赖特性反射光谱测量 PL 激发光谱 EEM（Excitation Emission Matrix）显示					二次激发校正发光光谱测量透过•吸收光谱测量颜色演算（色度、色温、演色性等）