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半导体IV特性曲线测试仪

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详细介绍

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半导体IV特性曲线测试仪之数字源表认准武汉普赛斯仪表,普赛斯源表支持四象限工作,源和负载,电压及电流范围广,最小电流分辨率3pA,电流±30pA-±3A,电压±90uV-±300V,准确度为0.03%;5寸触摸显示屏图形化操作,内置强大的功能软件,加速用户完成测试;支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网


普赛斯源表优势

同时精确提供和测量电压和/或电流;


       同步测量,减少测试时间


提供和测量非常广的电流和电压;


       电压测试范围±90uV-±300V,电流测试范围±30pA-±3A


支持运行用户脚本程序,无需电脑控制,提高生产测试速度;


       序列测试,简化操作,降低成本


采用用户熟悉的图形界面,不管用户经验是否丰富,使用起来都非常简便;


       触屏操作


 
与传统电源比:


电源过零需要改变线连接方式;


     增加需反复开关机械开关,降低了设备可靠性


电压电流限制精度有限;


电压1%,电流10mA



与电源结合万用表组合比:


万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步;


     复杂连线、编程开发


电源限压限流性能差


      限压限流精度低,瞬态特性也无法保证

 

集五台仪器的功能于一体


1. 电压源


2. 电流源


3. 电压表


4. 电流表


5. 电子负载



半导体IV特性曲线测试仪表应用领域


分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;
传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;
有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;
纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;
激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;
功率器件:静态测试系统;
电流传感器:动静态参数测试系统;



武汉普赛斯数字源表应用方案:


二极管IV测试、激光二极管LIV测试、三极管MOS管IV测试、APD管IV测试、太阳能电池板特性参数测试、电池充放电特性参数测试、二维材料IV扫描测试、电化学循环伏安测试;



武汉普赛斯数字源表额外功能(软件实现的):


二极管IV扫描及参数分析、三极管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等;


产品优势
半导体IV特性曲线测试仪之数字源表认准武汉普赛斯仪表,普赛斯源表支持四象限工作,源和负载,电压及电流范围广,最小电流分辨率3pA,电流±30pA-±3A,电压±90uV-±300V,准确度为0.03%
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