










粉末电阻率测试仪(四探针法)
FTDZS-I
参考标准:
YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分:粉末电阻率的测定.pdf
GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法
GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作
产品概述:
粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.
由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。
仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。
仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业,进行检测必备测试设备。
仪器主要技术指标:
一、测量范围:
测量半导电电阻率时: 电阻率10-5--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm
测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ
二、 电压测量:
1. 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V
2. 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3. 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。
三、 恒流源:
1. 电流输出:1μA 、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.
2. 电流误差:±(0.5%读数+2字)
四、 测量电极:
1、测量电极:四探针
2、探针间距:1MM
3、电极材质:钨棒
4、压片直径:2cm 面积3.142cm^2
5、粉末试样量:2.501g--2.5099g
五、加载装置:
1、加载电极1:手动加载
2、加载电极2:自动加载
3、传感器量程:10KN
上传人:北京中科微纳精密仪器有限公司
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报价:¥16713
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报价:¥16712
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报价:¥20000
已咨询267次导电和防静电材料体积电阻率测试仪
报价:¥14900
已咨询381次四探针-粉末电阻率测试仪
PRTS-4A型全自动扫描四探针测试系统 PRTS-4A全自动扫描四探针测试系统是运用四探针测量原理的多用途综合全自动测量设备。该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用设备。通过全自动测试系统,对晶圆片进行电阻率和方块电阻分布的测量,绘制出等值线图后,从而直接观察到整个晶圆片的电阻率或方块电阻大小的分布。 PRTS-4A全自动扫描四探针测试系统通过采用四探针双位组合测量技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上。利用电流探针和电压探针的组合变换,进行两次电测量,其Z后计算结果能自动消除由样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素所引起的,对测量结果的不利影响。因而在测试过程中,在满足基本条件下可以不考虑探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置等因素。这种动态地对以上不利因素的自动修正,显著降低了其对测试结果的影响,从而提高了测量结果的准确度。 PRTS-4A全自动扫描四探针测试系统拥有友好操作测试界面,通过此测试程序辅助用户简便地进行各项测试操作,把采集到的测试数据进行数学分析,然后把测试数据以Excel表格,2D、3D等数值图直观地记录、显示出来。方便用户对数据进行各种数据分析,用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看,
1)测试仪设计,符合国标和行业规范,获国家ZL。ZL号:ZL201220082173.9 2)同步式连续多点测试,GX快捷、准确度高、重复性好。一次装料,电阻率、压强、高度同步式连续多点测试,可快速绘制粉末“电阻率-压强”曲线。行业推荐粉末电阻率标准测试方式。可避免传统异步式的先压片脱模后再四探针测试的缺项:误差大,重复性差,直至散块不能成形无法测试的问题。 3)带智能化电脑软件.可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。 4)USB通讯接口,通用性好、方便快捷。 5)8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。 6)可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定,所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。 7)可拓展功能:压片机可独立当普通压片机用,电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪。
数字源表四探针法测试水凝胶电导率认准普赛斯仪表,普赛斯S系列、P系列源表标准的SCPI指令集,Y秀的性价比,良好的售后服务与技术支持,普赛斯仪表是手家国产数字源表生产厂家,产品已经历3年迭代完善,对标2400、2450、2611、2601B、2651、2657等;
CRESBOX半自动四探针测试仪可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻率和方块电阻。
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。 仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业,进行检测必备测试设备。