法国CORDOUAN AMERIGO纳米粒度和 ZETA 电位二合一分析仪

粒度范围

粒度：0.5 nm 至 10 µm / Zeta 电位：1 nm 至 100 µm

样品浓度

0.0001% 至 40%（重量百分比）（因溶剂而异）

Zeta 电位范围

-500 mV 至 +500 mV

样品池内温度控制范围

0°C 至 90°C；± 0.1°C（因比色皿材料而异）

迁移率范围

10-10to 10-7 m2/V.s

样品池

耐有机溶剂的光学级比色皿

样品量

通常为 750 µL（Hellma 比色皿：10 mm 光程）

样品类型

水溶剂和有机溶剂；pH 值：1-14（因比色皿材料而异）

最 大样品电导率

300 mS/cm

光纤输出（可选配）

可连接外部原位测量头或DTC测量头

信号处理

测量技术

动态光散射（DLS）/激光多普勒电泳（LDE）

激光光源

高度可靠的50 mW 半导体激光器，@635 nm，配备自动光学衰减系统

探测器

雪崩光电二极管（APD）

数据处理算法

实时相关处理/快速傅里叶变换

测量角度

粒度：170°（背向散射）和 17° / Zeta 电位：17°

分辨率

迁移率 = 10-10 m2/V.s 或 Zeta = 0.1 mV（水中）

硬件

操作条件/储存条件

15°C 至 40°C / -10°C 至 50°C——相对湿度 < 70%，无冷凝

计算机接口

USB 2.0/ Windows 10/32或64位

尺寸

33 cmx33cmx38cm (高x宽x深)

重量

17 kg

电源

100-115/220-240 VAC, 50/60Hz，最 大功率100 W

系统合规性

CE 认证

CE 认证产品——I 类激光产品，EN 60825-1:2001，CDRH

ISO 标准

符合 ISO 13321 (1996) 和 ISO 22412 (2008) 标准、《美国联邦法典》第 21 卷第 11 部分电子数据签名管理（可选）、《ISO 13099-2 : 2012 – 胶体系统 – Zeta 电位测定方法 – 第 2 部分：光学方法》

附件和服务

2 年保修

AmeriQ® 软件和说明书

原位或 DTC 远程测量头

校准套件（可选）