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扫描探针显微系统Dimension Icon

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产品特点

技术参数:

X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,Z小85um
Z方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;Z小9.5um
垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)
X-Y定位噪音(闭环):<0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
X-Y定位噪音(闭环):<0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
Z传感器噪音水平(闭环):<35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz)
整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值


样品尺寸/夹具:210mm真空吸盘样品台,直径210mm, 厚度15mm
电动定位样品台(X-Y轴):180mm*180mm可视区域;单向2um重复性;双向3um重复性。
显微镜光学系统:五百万像素数字照相机
180um至1465um可视范围
数字缩放及自动对焦功能


控制器:NanoScope V型控制器
工作台:整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视借口
震动隔绝:整体式气动减震台
声音隔绝:可隔绝环境中85 dBC的持续噪音

详细介绍

仪器简介:

最新一代 Dimension系列 AFM

Dimension Icon 原子力显微镜(AFM)的性能、功能及附件等方面具有全新表现,在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的新款设备,它基于世界上应用最广泛的AFM平台,集合了数十年的技术创新、行业内领先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计,在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。


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