C-Therm Trident导热系数测试仪
Trident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪
Trident 瞬态平面源 Trident TPS
Trident 导热仪 Trident MTPS
Trident 热导率测量仪 TCi
核心参数
仪器种类:瞬态平面热源法
产地类别:进口仪器
外形尺寸(L×W×H):40 x 40 x 40 cm
精确度:优于5%
导热系数测试范围:0 – 2000 W/mK
重复性:优于1%
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全 球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm推出的Trident热导率测量仪,可广泛应用于石油、化工、航空航天、建材、汽车等领域的研究中。Trident主机可选配三种测试方法,用于测试不同材料(绝热材料、聚合物、复合材料、热界面材料等等)在不同状态(固体、液体、粉末、膏体)、不同性质(各向同性与各向异性)以及不同温度范围下的导热系数、吸热系数、热扩散系数以及比热等热物性参数。
MTPS改良瞬态平面热源法
导热系数范围:0 ~ 500 W/mK
热扩散系数范围:0 ~ 300 mm2/s
比热范围:up to 5 MJ/m3K
吸热系数范围:5 ~ 40,000 Ws1/2/m2K
国际标准:ASTM D7984
测试材料种类:绝热材料(包括气凝胶等),聚合物,复合材料,热界面材料TIM,热电材料,相变材料PCM,传热流体,粉末材料,含能材料,膏体
Flex TPS瞬态平面热源法
导热系数范围:0 ~ 2000 W/mK
热扩散系数范围:0 ~ 1200 mm2/s
比热范围:up to 5 MJ/m3K
国际标准:ISO 22007-2.2, GB/T 32064
测试材料种类:块状材料,复合材料,薄膜材料,薄板材料,各向异性材料
Needle TLS探针法
导热系数范围:0.1 ~ 6 W/mK
国际标准:ASTM D5334, D5930, IEEE 442
测试材料种类: 颗粒材料,粉末,熔融高分子,泥浆,凝胶,胶体和土壤等
报价:面议
已咨询1309次等离子体-材料表面
报价:面议
已咨询563次热通量测量设备
报价:面议
已咨询4189次
报价:面议
已咨询174次激光光束质量分析仪
报价:面议
已咨询1247次等离子体-材料表面
报价:面议
已咨询422次热学性能测量设备
报价:面议
已咨询293次其他
报价:¥12800
已咨询2582次高低温绝缘电阻率测量系统
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用,包括聚合物,药物,超导体,半导体,合金,光学和功能涂层以及电介质,检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术,使得导热系数的测试更加简单,更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围,可对气凝胶等绝热材料,相变材料PCM,液体和粉末,聚合物,各向异性材料,薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠,测试时间短,精度高,重复性好,符合ISO 22007-2,GB/T 32064,ASTM D7984,D5334,D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外,Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪,可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外,同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广,测试快速,精度高,对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜,薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年,但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品,而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来,由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展,知识鸿沟逐渐缩小,而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。