产品简介
导热系数测试仪C-Therm Trident
C-Therm公司推出的新型三合一导热系数分析仪C-Therm Trident，将高精度瞬态平面源（Modified Transient Plane Source MTPS)与灵活的瞬态平面源（Transient Plane Source FLEX TPS）和强大的瞬态热线法（Transient Line Source TLS NEEDLE）三种技术结合在一起。
功能特点
广泛的温度范围：-50℃到200℃(标准探头) 全新：可扩展温度范围到500℃。
易操作，无需校准。
灵活性高，可用于实验室，质量控制和在线检测。
无需制备样品，样品尺寸不受限制。
适用范围广：可以测试固体，液体，粉末，胶体，且可以在各种环境中灵活操作。
无损测试：样品不受损坏。
技术参数
测量方法 | MTPS | TLS Needle | Flex TPS |
导热系数范围 | 0 to 500 W/mK | 0.1 ~ 6 W/mK | 0.03 ~ 500 W/mK |
样品温度范围 | -50º ~ 200 ºC 选配可扩展至 500ºC | -55º ~ 200ºC | -50º ~ 300ºC |
精度 | 优于 1% | 优于 3% | 优于 2% |
准确度 | 优于 5% | 20°C 条件下 ± (3% + 0.02) W/mK | 优于 5% |
测量时间 | 0.8 ~ 3 秒 | 1 ~ 4 分钟 | 10 ~ 180 秒 |
传感器尺寸 | 直径 18 mm | 长度 150 mm | 直径6 mm, 13 mm 和30mm 多种尺寸可选 |
最小样品尺寸 | 固体样品：最小包含直径18mm 最小厚度取决于热导率，例如样品热导率小于1 W/mK，最小的厚度建议在1mm；液体及粉末材料: 1.25 mL | 80 mL | 需要两个相同的样品；样品尺寸直径至少是传感器尺寸的2.5倍；样品厚度要大于传感器尺寸 |
最大样品尺寸 | 无限 | 无限 | 无限 |
国际标准 | ASTM D7984 | ASTM D5334, D5930, 和 IEEE 442-1981 | ISO 22007-2 |
报价：面议
已咨询4350次催化、吸附、热分析
报价：面议
已咨询1315次等离子体-材料表面
报价：面议
已咨询1267次等离子体-材料表面
报价：面议
已咨询1420次等离子体-材料表面
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术，使得导热系数的测试更加简单，更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围，可对气凝胶等绝热材料，相变材料PCM，液体和粉末，聚合物，各向异性材料，薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠，测试时间短，精度高，重复性好，符合ISO 22007-2，GB/T 32064，ASTM D7984，D5334，D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外，Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪，可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外，同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广，测试快速，精度高，对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜，薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年，但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品，而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来，由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展，知识鸿沟逐渐缩小，而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。
营业执照已审核
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