C-Therm Trident导热系数测试仪
Trident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪
Trident 瞬态平面源 Trident TPS
Trident 导热仪 Trident MTPS
Trident 热导率测量仪 TCi
仪器简介：
HidenEQP是一台结合质量和能量分析的仪器（MassandEnergyAnalyserforPlasmaDiagnostics），用于分析等离子过程中阴、阳离子、中性粒子以及自由基。
技术参数：
应用：
蚀刻 / 沉积作用研究
离子植入 / 激光烧蚀
残余气体分析 / 泄漏检测
等离子体电感耦合，即在操作中遵从电极设定条件
通过视口、接地电极和驱动电极进行分析
主要特点：
软件控制的离子汲取光学系统，以使等离子体扰动最小
45°静电扇区分析器，扫描能量增量 0.05 eV / 0.25eV FWHM
所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输
带差式泵的三级过滤四极杆，质量数范围至2500amu
高灵敏度 / 稳定的脉冲离子计数检测器，有7个数量级的动态范围
可调谐的离子源，用于电子附着选件的表观电势质谱分析
Penning规和互锁装置可提供过压保护
信号选通分辨率1μs，用于研究脉冲等离子体或能量、质量分布随时间的变化
1000eV 选配, 漂浮电压可选至10keV, Faraday 杯用于高密度等离子体
Mu-Metal, Radio-metal 屏蔽可选,高压操作可选
通过RS232、RS485或Ethernet LAN，控制软件MASsoft
报价：面议
已咨询4899次等离子体-材料表面
报价：面议
已咨询4659次等离子体-材料表面
报价：面议
已咨询15671次ICP-MS
报价：面议
已咨询7932次ICP-MS
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术，使得导热系数的测试更加简单，更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围，可对气凝胶等绝热材料，相变材料PCM，液体和粉末，聚合物，各向异性材料，薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠，测试时间短，精度高，重复性好，符合ISO 22007-2，GB/T 32064，ASTM D7984，D5334，D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外，Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪，可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外，同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广，测试快速，精度高，对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜，薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年，但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品，而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来，由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展，知识鸿沟逐渐缩小，而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。
营业执照已审核
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