C-Therm Trident导热系数测试仪
Trident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪
Trident 瞬态平面源 Trident TPS
Trident 导热仪 Trident MTPS
Trident 热导率测量仪 TCi
仪器简介：
EQS是差式泵式二次离子质谱（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用zui*技术 的SIMS探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。
技术参数：
应用：
静态 /动态SIMS
一般目的的表面分析
整体的前端离子源，便于RGA和 SNMS
兼容的离子枪/ FAB 枪
成分/污染物分析
深度分析
泄漏检测
与Hiden SIMS 工作站兼容
主要特点：
高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围
SIMS 成像，分辨率在微米以下
光栅控制，增强深度分析能力
45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM.
所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输
差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至2500amu
灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器
Penning规和互锁装置可提供过压保护
通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制
报价：面议
已咨询4931次等离子体-材料表面
报价：面议
已咨询5045次等离子体-材料表面
报价：面议
已咨询1821次半导体测试设备
报价：面议
已咨询3292次飞行时间质谱
报价：面议
已咨询298次其他
报价：面议
已咨询291次其他
报价：面议
已咨询255次其他
报价：￥8000000
已咨询687次SEM 扫描电子显微镜
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术，使得导热系数的测试更加简单，更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围，可对气凝胶等绝热材料，相变材料PCM，液体和粉末，聚合物，各向异性材料，薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠，测试时间短，精度高，重复性好，符合ISO 22007-2，GB/T 32064，ASTM D7984，D5334，D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外，Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪，可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外，同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广，测试快速，精度高，对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜，薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年，但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品，而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来，由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展，知识鸿沟逐渐缩小，而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。
营业执照已审核
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