IMI系列体积法高压吸附分析仪
IMI是一个专业的多用途全自动高压吸附分析仪,是为材料做高压吸附研究专门设计的高精度吸附测量仪器,可以进行H2,N2,Ar,CO2, CH4等多种气体的吸附。
IMI-HTP(Volumetric Analyser)
专业的体积法储氢分析仪
全自动测量金属氢化物的压力-组成等温线PCI和过量吸附等温线
自动校正获得PCI和PCT等温线
可设置样品的预处理、活化和循环稳定性的连续研究
实时分析压力-松弛动力学
等压动力学测量模式
可以通入其它气体(如:Ar,N2),通过质量流量计控制,进行体系校正、计算样品比表面积和测量孔体积。
IMI-PSI
专门为多孔材料气体吸附设计,吸附压力高达200bar,温度从77K-500度。
对于 H2、N2、Ar、CO2的吸附应用包括:
1 多空材料
2 BET比表面分析
3 PSD孔径分析
4 等温线滞后
IMI-NRG
专门用于CO2与CH4的高压吸附研究,压力高达200bar,温度从室温至500度。包含一套超临界流体压缩装置,用于CO2、Xe、乙烷、SCFs等气体的压缩。
应用范围包括:
1 碳的俘获与存储
2 地质学中CO2CH4的吸附
3 页岩气体与煤床甲烷气的研究
4 气体在离子液体中的溶解性
IMI-FLOW
用于动态流动与热量解吸附作用的研究,温度-170度-500度,含可选择的冷却装置。气体的流入流出由质量流量及控制。
主要应用包括:
1 分离气体的研究
2 突破曲线研究
3 TPRTPOTPD
4 催化研究
5 同位素转化
技术参数:
样品反应器
结构材料:不锈钢(SS316L)
内部样品管:铜质,表面镀金
反应室密封:非橡胶密封Cajon VCR-8
压力
压力传感器:1,10,100,200 bar;2,10,100 mbar,200mbar(最多可配3个)
精确度:± 0.05 % 量程
分辨率:1/64000 量程
压缩性校正精度:0.1 %(NIST数据库)
进气口:最多3个质量流量计;最大流速:1000 ml /min
温度
精确度: ± 1 ℃( K型), ± 0.1 ℃ (Pt100)
控制精度:± 0.1℃
质谱
质量数范围:1-200 amu
检测极限:0.1~1ppm;低于20ppb(三级过滤四级杆)
检测器:法拉第杯/电子倍增器
连接方式:惰性石英毛细管(2m)
测量范围:室温~500℃(标配);-196℃~500℃ (需配低温装置)工作压力:100bar(标配),200bar(选配)最大样品体积:1 cm3热脱附研究,He作载气,四极质谱仪进行检测。
报价:面议
已咨询4582次催化、吸附、热分析
报价:面议
已咨询4847次催化、吸附、热分析
报价:面议
已咨询4075次气体/蒸汽吸附仪
报价:面议
已咨询1944次高温高压气体吸附仪
报价:面议
已咨询2093次气体吸/脱附分析仪
报价:面议
已咨询2039次物理/化学吸附仪
报价:¥500000
已咨询323次化学吸附仪
报价:¥500000
已咨询298次化学吸附仪
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用,包括聚合物,药物,超导体,半导体,合金,光学和功能涂层以及电介质,检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术,使得导热系数的测试更加简单,更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围,可对气凝胶等绝热材料,相变材料PCM,液体和粉末,聚合物,各向异性材料,薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠,测试时间短,精度高,重复性好,符合ISO 22007-2,GB/T 32064,ASTM D7984,D5334,D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外,Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪,可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外,同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广,测试快速,精度高,对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜,薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年,但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品,而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来,由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展,知识鸿沟逐渐缩小,而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。