C-Therm Trident导热系数测试仪
Trident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪
Trident 瞬态平面源 Trident TPS
Trident 导热仪 Trident MTPS
Trident 热导率测量仪 TCi
Hiden IG20 Ar/O2离子枪(Ion Gun),先进的离子枪,配合SIMS进行材料表面和深度的分析。
功能特点
静态、动态SIMS
俄歇电子谱
离子束溅射
表面科学研究
光栅/ 深度分析
具有100μm光斑直径的、0.5~5 keV能量的强离子束
高电流密度4.5 mA/cm2
电子轰击离子源具有氩和氧离子能力
扫描线散射和离子束光栅的光学调整功能,用于深度分析
离子枪的3°偏移量,用于中性粒子的**排斥
在光栅应用中,束消隐装置可以快速进行束的转换
差式泵源减少室内气体
便于更换的双灯丝
扫描速度可低至64μs
与SIM 和EQS 探针一起,可以直接进行光栅速率/区域控制
技术参数
能量范围: 500eV ~ 5KeV
最大电流: 800nA
最小光斑尺寸: 50μm
离子源寿命: >1000小时
法兰规格: 斜楔法兰DN-35-CF
气源压力: 0.1~0.5bar至一个大气压
报价:面议
已咨询3917次等离子体-材料表面
报价:面议
已咨询9144次等离子体-材料表面
报价:面议
已咨询149次其他附件
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已咨询104次其他附件
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已咨询67次其他附件
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已咨询136次其他附件
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已咨询176次其他附件
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已咨询321次其他附件
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用,包括聚合物,药物,超导体,半导体,合金,光学和功能涂层以及电介质,检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术,使得导热系数的测试更加简单,更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围,可对气凝胶等绝热材料,相变材料PCM,液体和粉末,聚合物,各向异性材料,薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠,测试时间短,精度高,重复性好,符合ISO 22007-2,GB/T 32064,ASTM D7984,D5334,D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外,Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪,可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外,同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广,测试快速,精度高,对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜,薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年,但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品,而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来,由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展,知识鸿沟逐渐缩小,而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。