Hiden 飞行时间二次离子质谱仪 TOF-SIMS
FastGC-快速气相色谱
PTR TOF 6000 质子传递反应质谱仪
Ionicon 超高分辨率质子传递反应飞行时间质谱仪 Fusion PTR
PTR QMS 500 质子转移质谱仪
产品简介
PTR QMS 500 质子转移质谱仪

奥地利IONICON公司的PTR-QMS 500 系列是用于监测挥发性有机化合物(VOCs)的超灵敏检测器,能够对挥发性有机物进行持续定量监测。 我们的 PTR-QMS系列产品,基于四级杆质谱的原理,结合可达到两个数量级的pptv超低在线检测限,具有超高的灵敏度和极快速的响应时间。
技术参数
质量范围amu | 1~512 |
分 辨 率 | <1amu |
响应时间ms | 100 |
测量时间ms/amu | 2~60 |
检测极限pptv | 30 |
线性范围 | 30pptv~10ppmv |
进气流速sccm | 50~500 |
进样系统加热范围 | 150℃ |
反应室加热范围 | 40~130℃ |
电源 | 100-230V, max750W |
体积(W×H×D)cm | 78×86×55 |
重量Kg | 130 |
数据接口 | 网线 |
报价:面议
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已咨询3017次ICP-MS电感耦合等离 子体质谱
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用,包括聚合物,药物,超导体,半导体,合金,光学和功能涂层以及电介质,检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术,使得导热系数的测试更加简单,更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围,可对气凝胶等绝热材料,相变材料PCM,液体和粉末,聚合物,各向异性材料,薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠,测试时间短,精度高,重复性好,符合ISO 22007-2,GB/T 32064,ASTM D7984,D5334,D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外,Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖,为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪,可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外,同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广,测试快速,精度高,对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜,薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年,但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品,而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来,由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展,知识鸿沟逐渐缩小,而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。