仪器简介：3F 1000/2000 Series三级过滤高分辨四极质谱仪(Triple Filter Quadrupole Mass Spectrometers)用于精密气体分析和研究应用。
三级过滤高分辨四极杆最大限度地减少不需要的离子污染，预四极杆、主四极杆和后四极杆工作时有不同频率的选择，有6、9、12mm直径的四级杆可选，因此可以增加质量分辨率，离子灵敏度，高精度残余气体测量的稳定性。
主要特点：灵敏度高，检测范围从5ppb至100%
离子源控制用于软离子化和表观电势质谱
灵敏度增强有利于质量数较大离子传送
6、9、12 mm直径的四极杆可选
多种离子源配置供选择
在一级滤过处增加射频，抗污染物
升温脱附实验时，温度数值同步显示
SEM或PIC检测器，可选双Faraday/ SEM或Faraday/ PIC模式
通过RS232、USB或Ethernet连接计算机，MASsoft软件控制
0～150eV全电子能量控制，与TIMS模式互补
技术规格：质量数范围： 1～300 amu（标准配置）
500、1000、2500 amu（选配）
测量速度： 500 points/s
分辨率： 0.1% Valley、1% Valley
动态范围： 107
zuidi检测分压：2 x 10-14 mbar
软离子化： 0～150eV
稳定性： 24h以上，峰高变化小于±0.5%
报价：面议
已咨询3696次残余气体分析
报价：面议
已咨询136次拉曼光谱仪
报价：€50
已咨询1405次N80 高分辨台式显微CT
报价：$500000
已咨询3015次
报价：面议
已咨询1350次光栅光谱仪(单色仪)
报价：面议
已咨询153次表面分析
报价：面议
已咨询1422次CHDF3000 高分辨率纳米粒度仪
报价：面议
已咨询300次其它光谱仪
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于1ppm。
C-Therm的MTPS传感技术，使得导热系数的测试更加简单，更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。
rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围，可对气凝胶等绝热材料，相变材料PCM，液体和粉末，聚合物，各向异性材料，薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠，测试时间短，精度高，重复性好，符合ISO 22007-2，GB/T 32064，ASTM D7984，D5334，D5930等标准。
除瞬态平面源TPS方法外，Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。
C-Therm的Trident热常数分析仪，可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外，同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量范围广，测试快速，精度高，对样品无损。
薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜，薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年，但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品，而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来，由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展，知识鸿沟逐渐缩小，而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。
营业执照已审核
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