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JEOL JEM-2800 场发射透射电子显微镜

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详细介绍

日本电子株式会社(JEOL)推出了一款特殊设计的产品即JEM-2800 场发射透射电子显微镜,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。

技术参数:

1. 点分辨率:0.21nm;

2. 晶格分辨率:0.1nm;

3. STEM 分辨率:0.16nm;

4. 二次电子分辨率:0.5nm;

5放大倍数:高达2,000,000

6. 能谱:可以安装两个超级能谱

7. 洛伦兹模式:标配

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