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赛默飞世尔扫描电子显微镜 Phenom ParticleX AM Desktop SEM

品牌：赛默飞世尔
型号： Phenom ParticleX AM Desktop SE
产地：美洲美国
供应商报价：面议

赛默飞电子显微镜更新时间：2025-05-07 12:54:10

销售范围售全国

入驻年限第8年

营业执照已审核

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产品特点

Desktop SEM 用于增材制造分析，能够观察到Z大体积达 100 mm x 100 mm 的大样品。

详细介绍

产品介绍：

Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop 扫描电子显微镜 (SEM) 是一款旨在用于增材制造，微量纯度实现的多用途台式 SEM。

实现对数据的内部控制：

监控金属粉末关键特性
适用于粉末层和粉末进料增材制造工艺
识别颗粒大小分布、单个颗粒形态以及异物

Phenom ParticleX AM Desktop SEM 配备了一个电镜室，可分析最大 100 mm x 100 mm 的大样品。专有的排气/装载机制使其具有世界上最快速的排气/负载循环，能提供高通量。

主要特点

一般 SEM 使用

Phenom ParticleX AM Desktop SEM 具有一个带有准确快速电动样品台的电镜室，可分析最高 100 mm x 100 mm 样品。尽管样品尺寸更大，但专利的循环加载机制可使通气/加载循环保持到行业领先的 60 秒或更短的样品加载时间。实际上，这可改善 SEM 系统的通量因子。

增材制造

Phenom ParticleX AM Desktop SEM 可测量各种大小和形状参数，例如最小和最大直径、周长、长宽比、粗糙度和铁氧直径。所有这些结果均可以 10%、50%、90% 值（例如、 d10、d50、d90）显示。

元素绘图和谱线扫描

用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。这对于涂层、涂料以及其他多层应用特别有用，可用于分析边线、涂层、横截面等

二级电子检测器

ParticleX AM Desktop SEM 可选提供二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，非常适合揭示详细的样品表面信息。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。

性能数据

电子光学	长寿命的热电子源 (CeB6) 多射束电流
电子光学放大率范围	160 - 200,000x
光学放大率	3–16x
分辨率	<10 nm
图像分辨率选项	960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素
加速电压	默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV 高级模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围
真空水平	低 - 中 - 高
检测器	能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器（标配）二级电子检测器（可选）
样本尺寸	最大 100 mm x 100 mm（最大 36 x 12 mm 针脚）最大 40 mm (h)
样品加载时间	光学 <5 秒电子光学 <60 秒