赛默飞世尔 扫描电子显微镜 Phenom 分区 TC 台式扫描电镜

技术清洁

随着对（汽车）行业中光学显微镜范围之外的较小颗粒分析的需求不断增长 ，Phenom ParticleX TC（技术清洁）Desktop SEM 可兼具自动扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱 (EDS) 两种优势。相比光学显微镜而言，这是一个主要优势，因为它可以对颗粒进行化学分类，为您的生产工艺和/或环境提供卓 越的见解。提供符合 VDA 19 / ISO 16232  或 ISO 4406/4407 标准的报告。

二级电子检测器

Phenom ParticleX TC（技术清洁度）Desktop SEM 可选配二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，是揭示详细样品表面信息的理想选择。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。

一般 SEM 使用

Phenom desktop SEM 产品的用户界面采用久经考验的易用性技术。该界面使现有用户和新用户能够以最少的培训迅速熟悉系统。 

元素绘图和谱线扫描

用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX TC（技术清洁度）Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。