扫描透射电镜/扫描透射电子显微镜

Spectra新的检测功能，使科学家和工程师能够获得以前难以获得的原子级数据，以满足更广泛的应用需求。该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像，包括金属有机框架，沸石和聚合物，如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用EDX（能量分散X射线）或EELS（电子能量损失光谱）等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。

Phenom Pharos STEM 台式场发射电子显微镜，从另一个维度提高了其成像能力和 应用的多样性。 Pharos STEM 电子显微镜，利用 FEG 高亮度电子源，可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜(TEM)载网，实现样品的快速、安全切换。可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像，并支持自定义选择成像模式。

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。

该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像，包括金属有机框架，沸石和聚合物，如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用EDX（能量分散X射线）或EELS（电子能量损失光谱）等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。

•更高亮度的电子源 •更简单的电气特性分析 •高动态范围映射