透射电镜-美国赛默飞Talos L120C TEM透射电镜
透射电镜-美国赛默飞Talos F200X S/TEM透射电镜
透射电镜-美国赛默飞Talos F200S G2 S/TEM透射电镜
透射电镜-美国热电Talos F200i S/TEM透射电镜
透射电镜-美国热电Talos F200C TEM透射电镜
产品描述:
Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是赛默飞zui新的用于高分辨率成像和分析应用的场发射扫描/透射电子显微镜,其电压范围为20到200 kV,是专为满足各种材料科学样品和样品的性能和效率而设计的。现可提供对称布置的双100 mm2 Racetrack 检测器“( Dual-X”),以zui大限度提高分析通量。
Talos F200i标准的 X-TWIN 物镜极靴间距在应用中具有zui大灵活性,结合高再现性能的镜筒设计,可支持高分辨率二维和三维表征分析、原位动态观测及电子衍射应用。Talos F200i 还配备了 4k × 4k Ceta 16M 相机,可在 64 位平台上提供大 视场、高灵敏度快速成像。
Talos F200i S/TEM 专为多用户和多学科环境设计,并配备了可在所有赛默飞 TEM 平台使用的Thermo Scientific™ Velox™ 用户界面,对于新用户来说也非常友好。此外,所有 TEM 日常调整都已经自动化,以提供zui佳并可重复的日常设置。自动调节功能简化了初学者的学习过程,减少了多用户环境中的紧张关系,并使有经验的操作员可以在较短时间内获取数据信息。
产品参数:
产品参数 | |
TEM 线分辨率 | ≤ 0.10 nm |
LACBED zui大会聚角 | ≥ 100 mrad |
zui大衍射角 | 24° |
STEM 分辨率 | ≤ 0.16 nm |
EDS | 侧插式,可伸缩 |
电子枪类型 | 场发射枪或高亮度场发射枪 |
样品操作 | |
Z 轴移动总行程 (标准样品杆) | ± 0.375 mm |
三维重构样品杆zui大 α 倾转角 (高视野样品杆) | ± 90° |
样品漂移 (标准样品杆) | ≤ 0.5 nm/min |
特点与用途:
关键优势 |
双 EDS 技术可实现。从单 30 mm2 探头到可实现高通量 (或低剂量)分析的双 100 mm2 探头,可根据您的需求 选择zui理想的 EDS。 |
高质量 S/TEM 图像和准确的 EDS。借助创新直观的 Velox 软件用户界面,可通过极其简单的操作方法,获得 高质量 TEM 或 S/TEM 图像。Velox 软件内置的特有的 EDS 吸收校准功能可实现zui精确的定量分析。 |
zui佳的原位动态分析功能。可加装三维重构或原位分析样品杆、高速相机、智能软件。 X-TWIN 大物镜间距可实现三维成像和原位数据采集,同时zui大限度避免分辨率和分析能力的损失。 |
提高生产效率。超稳定镜筒设计;借助 SmartCam 实现远程操作;物镜功率恒定,可实现快速电镜模式和高压切换;并可轻松、快速切换多用户环境。 |
zui具可重复性的可靠数据。所有日常 TEM 合轴,例如聚焦、zhong心高度调节、电子束偏转、聚光镜光阑对中、电子束倾斜枢轴点以及旋转zhong心调整都是自动完成的,以确保用户总是从zui佳成像条件开始。实验可多次重复,因而用户可以更多关注研究课题而不再纠结于电镜操作。 |
快速大视场成像。大视场的 4k × 4k Ceta CMOS 相机可以在整个高压范围实现高灵敏度、高速实时数字变焦。 |
紧凑型设计。本设备具有更小的尺寸和占地面积,便于在更具挑战性的较小空间内安装,同时有助于维修和降低安装和维护成本。 |
报价:面议
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TEM显微镜用于高生产率、高分辨率的TEM和具有化学定量的STEM表征。
适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。
用于光束敏感材料的高对比度成像的TEM和STEM分析。
The Talos L120C TEM 的平台式设计具备了模块多功能化,ZG的稳定性及操作的便捷性,从而提供可靠的ZJ成像性能。
专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。