DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 ExSolve Wafer TEM Prep DualB
赛默飞世尔 X 射线光电子能谱仪 ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪微探针
赛默飞(原FEI)Talos F200C TEM透射电子显微镜
赛默飞(原FEI)Talos L120C TEM透射电子显微镜
赛默飞(原FEI)Helios 5 激光 PFIB
Thermo ScientificTM Talos™F200X扫描/透射电子显微镜(S / TEM)将出色的高分辨率S / TEM和TEM成像与业界领xian的能量色散X射线光谱(EDS)信号检测和3D化学表征以及成分映射相结合。 Talos F200X S / TEM允许在所有尺寸(1D-4D)中进行最快和最精确的EDS分析,以及用于动态显微镜的快速导航的**HRTEM成像。 Talos F200X S / TEM完成所有这些工作,同时提供最高的稳定性和最长的正常运行时间。
STEM成像中的最高分辨率和吞吐量
Talos F200X S / TEM可在多个维度上提供最快,最精确的纳米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高产量,精度和易用性的创新功能,是学术,政府和工业研究环境中高级研究和分析的理想选择。
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TEM显微镜用于高生产率、高分辨率的TEM和具有化学定量的STEM表征。
适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。
用于光束敏感材料的高对比度成像的TEM和STEM分析。
The Talos L120C TEM 的平台式设计具备了模块多功能化,ZG的稳定性及操作的便捷性,从而提供可靠的ZJ成像性能。
专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。