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晶体管静态参数测试仪

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详细介绍


公司主要从事半导体器件/晶体管/模块/晶圆等各类器件的电参数、可靠性、老化等测试设备的研发、生产、销售:

主要产品包含:

静态测试设备、动态测试设备、环境老化测试设备、热特性测试设备、高低温箱等


产品概述

 DCT2000 晶体管直流参数测试仪是由我公司技术团队结合半导体功率器件测试的多年经验, 以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后,完全自主开发设计的全新一代“晶体管直流参数测 试仪”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完 善和不断的提升。 该机采用大规模 32 位 ARM&MCU 设计,配合 PC 电脑中文操作界面,高压源标配为 1400V(可 选配 2000V),高流源标配为 40A(可选配 100A/200A/300A)。程控软件基于 Lab VIEW 平台编写, 填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座,保证测试结果准确可靠。产品可测试 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等 7 大类 26 分类的电子元器件,涵盖 电子产品中几乎所有的常见器件,同时支持 IC 类集成芯片测试功能扩展。 产品为桌面放置的台式机结构,由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配 器,还能够通过 Prober 接口 Handler 接口可选(16Bin)连接分选机和机械手建立工作站,实 现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应 对“来料检验”“失效分析”“选型配对”“量产测试”等不同应用场景。 产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹 具”让操作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为 EXCEL 文本。

产品特点

(1) PC 机为系统的主控机;

 (2) 菜单式测试程序编辑软件操作简便; 

(3) 可测试 7 大类 26 分类的各类电子元器件;

 (4) 基于 Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面;

 (5) 16 位 ADC,1M/S 采样速率;

 (6) 程控高压源 10~1400V,提供 2000V 选配;

 (7) 程控高流源 1uA~40A,提供 100A,200A,300A 选配;

 (8) 驱动电压 10mV~40V;

 (9) 控制极电流 10uA~100mA;

 (10)可以测试结电容,诸如 Cka,Ciss,Crss,Coss;

 (11)四线开尔文连接保证加载测量的准确;

 (12)通过 BNC 接口连接校准数字表,对系统进行校验;

 (13)Prober 接口 Handler 接口可选(16Bin) ;

 (14)可为用户开发不同封装的测试适配器;

 (15)连接分选机最高 UPH 可达 8000;

 (16)脉冲电流自动加热功能,方便高温测试,无需外挂升温装置;

 (17)产品测试功能持续自研升级,扩展性强;

产品规格及电气环境

 产品信息 产品型号:DCT2000 产品名称:晶体管直流参数测试仪 

 物理规格 一体机尺寸:深 660*宽 430*高 210 (mm) 集成机尺寸:深 600*宽 450*高 415 (mm) 主机重量:<35kg

 电气环境 主机功耗:<300W 海拔高度:海拔不超过 4000m; 环境要求:-20℃~60℃(储存)5℃~50℃(工作); 相对湿度: 20%RH~75%RH (无凝露,湿球温度计温度 45℃ 以下); 大气压力:86Kpa~106Kpa; 防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等; 电网要求:AC220V±10%50Hz±1Hz; 工作时间:连续;

测试器件种类和参数 

 二极管类:二极管 Diode  Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm ; 

 二极管类:稳压二极管 ZD(Zener Diode)  Kelvin,Vz,lr,Vf,△Vf ; 

 二极管类:三端肖特基二极管 SBD(SchottkyBarrierDiode)  Kelvin , Vrrm1,Irrm1,Vf1,Vrrm2,Irrm2,Vf2;

 二极管类:瞬态二极管 TVS  Kelvin, Vrrm, Irrm,Vf,Vdrm,Idrm,Vc(测试范围 100A/30V); 

 二极管类:整流桥堆  Kelvin ,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm; 

 三极管类:三极管  Kelvin, V(br)cbo, V(br)ceo ,V(br)ebo, Icbo,lceo,Iebo,Hfe,Vce(sat),Vbe(sat),△Vsat, △Bvceo, △Bvcbo ,Vbe; 

 三极管类:双向可控硅  Kelvin,Igt,Vgt,Igd,Vgd,Vtm,Vdrm,Vrrm,Ih,IL; 

 三极管类:单向可控硅  Kelvin,Igt,Vgt,Igd,Vgd,Vtm,Vrrm,Ih,IL; 

 三极管类:MOSFET  Kelvin ,VGS(th), V(BR)Dss ,Rds(on),△Bvds,Gfs,Igss,ldss, Vds(on) ,Vsd; 

 三极管类:JFET  Kelvin,VGS(off ),V(BR)Dss,Rds(on),Gfs,lgss, Idss(off), Idss(on) ,vds(on), Vsd; 

 三极管类:IGBT  Kelvin,VGE(th),V(BR)CES,Vce(on),Gfe,lges, lces,Vf; 

 保护类:压敏电阻  Kelvin,Vrrm,Irrm ; 

 稳压集成类:三端稳压器第   Kelvin,Vout ,Reg_Line,Reg_Load,IB,IB_I,△IBVD,ISC;

 光耦类:4 脚光耦、6 脚光耦、8 脚光耦、16 脚光耦  Kelvin,Vf,Ir,Bvceo,Bveco,Iceo,Ctr,Vce(sat),Tr(选配),Tf(选配);

技术指标

 电流/电压源 VIS  自带 VI 测量单元

 

1)  加压(FV)

 

量程

分辨率

精度

±40V

625uV

±0.1% 设定值±5mV

±20V

320uV

±0.1% 设定值±5mV

±10V

160uV

±0.1% 设定值±5mV

±5V

80uV

±0.1% 设定值±5mV

±2V

32uV

±0.1% 设定值±5mV

 

2)   加流(FI):

 

量程

分辨率

精度

±200A

3.125mA

±5%   设定值±500mA

±100A

1.5625mA

±5%   设定值±250mA

±40A

625uA

±5%   设定值±100mA

±4A

62.5uA

±0.2% 设定值±10mA

±400mA

6.25uA

±0.1% 设定值±500uA

±40mA

625nA

±0.1% 设定值±50uA

±4mA

62.5nA

±0.1% 设定值±5uA

±400uA

6.25nA

±0.1% 设定值±500nA

±40uA

625pA

±0.1% 设定值±50nA

±4uA

62.5pA

±0.1% 设定值±5nA

说明: 电流大于 1.5A  自动转为脉冲方式输出,脉宽范围:300us- 1000us 可调

 

3)   电流测量(MI)

 

量程

分辨率

精度

±200A

6.1mA

±5%     读数值±500mA

±100A

305uA

±5%     读数值±250mA

±40A

1.22mA

±1%   读数值±100mA

±4A

122uA

±0.2% 读数值±10mA

±400mA

12.2uA

±0.5% 读数值±20uA

 

 

±40mA

1.22uA

±0.5% 读数值±20uA

±4mA

122nA

±0.5% 读数值±2uA

±400uA

12.2nA

±0.5% 读数值±200nA

±40uA

1.22nA

±1%   读数值±20nA

 

4)   电压测量(MV)

 

量程

分辨率

精度

±40V

1.22mV

±0.1% 读数值±10mV

±20V

122uV

±0.1% 读数值±5mV

±10V

12.2uV

±0.1% 读数值±5mV

±5V

1.22uV

±0.1% 读数值±5mV

1.6.2  数据采集部分 VM

16 位 ADC ,1M/S 采样速率

1)电压测量(MV)

 

量程

分辨率

精度

±2000V

30.5mV

±0.5% 读数值±200mV

±1000V

15.3mV

±0.2% 读数值±100mV

±100V

1.53mV

±0.2% 读数值±20mV

±10V

153uV

±0.1% 读数值±5mV

±1V

15.3uV

±0.1% 读数值±2mV

±0.1V

1.53uV

±0.2% 读数值±2mV

 

2)漏电流测量(MI)

 

量程

分辨率

精度

±100mA

1.53uA

±0.2% 读数值±100uA

±10mA

153nA

±0.1% 读数值±3uA

±1mA

15.3nA

±0.1% 读数值±300nA

±100uA

1.53nA

±0.1% 读数值±100nA

±10uA

153pA

±0.1% 读数值±20nA

±1uA

15.3pA

±0.5% 读数值±5nA

±100nA

1.53pA

±0.5% 读数值±10nA

  

1.6.3  高压源 HVS(基本)12 位 DAC

 

1) 加压(FV)

 

量程

分辨率

精度

2000V/10mA

30.5mV

±0.5% 设定值±500mV

200V/10mA

30.5mV

±0.2% 设定值±10mV

40V/50mA

30.5mV

±0.1% 设定值±5mV

 

2) 加流(FI):

 

量程

分辨率

精度

10mA

3.81uA

±0.5% 设定值±10uA

2mA

381nA

±0.5% 设定值±2uA

200uA

38.1nA

±0.5% 设定值±200nA

20uA

3.81nA

±0.5% 设定值±20nA

2uA

381pA

±0.5% 设定值±20nA

 


产品优势

主要产品包含:
静态测试设备、动态测试设备、环境老化测试设备、热特性测试设备、高低温箱等

产品特点
(1) PC 机为系统的主控机;
(2) 菜单式测试程序编辑软件操作简便;
(3) 可测试 7 大类 26 分类的各类电子元器件;
(4) 基于 Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面;
(5) 16 位 ADC,1M/S 采样速率;
(6) 程控高压源 10~1400V,提供 2000V 选配;
(7) 程控高流源 1uA~40A,提供 100A,200A,300A 选配;
(8) 驱动电压 10mV~40V;
(9) 控制极电流 10uA~100mA;
(10)可以测试结电容,诸如 Cka,Ciss,Crss,Coss;
(11)四线开尔文连接保证加载测量的准确;
(12)通过 BNC 接口连接校准数字表,对系统进行校验;
(13)Prober 接口 Handler 接口可选(16Bin) ;
(14)可为用户开发不同封装的测试适配器;
(15)连接分选机最高 UPH 可达 8000;
(16)脉冲电流自动加热功能,方便高温测试,无需外挂升温装置;
(17)产品测试功能持续自研升级,扩展性强;
技术资料
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