微栅硅膜
是在膜上制成边缘有层次的微米透孔,可以制作不同孔径,可消除支持膜背底对图像衬度与成分分析的影响。特点是耐受不同组分等离子体长时间清洗,可彻底清除电镜样品表面碳污染。适用于纳米线、纳米片、纳米团聚物等纳米材料的高分辨(S)TEM图像、EDS成分、EELS分析。一般选用200目载网,可以根据客户需求制作。
产品编号 | 产品名称 | 规格 | 载体 | 包装 |
DS11012 | 铜网微栅硅膜 | 200目 | 铜网 | 100枚/盒 |
DS11013 | 铜网微栅硅膜 | 300目 | 铜网 | 100枚/盒 |
DS10012F1 | 坐标铜网微栅硅膜 | 200目 | 200F1坐标铜网 | 100枚/盒 |
DS10013F1 | 坐标铜网微栅硅膜 | 300目 | 300F1坐标铜网 | 100枚/盒 |
DS11012M | 钼网微栅硅膜 | 200目 | 钼网 | 100枚/盒 |
DS11013M | 钼网微栅硅膜 | 300目 | 钼网 | 100枚/盒 |
DS11012N | 镍网微栅硅膜 | 200目 | 镍网 | 100枚/盒 |
DS11013N | 镍网微栅硅膜 | 300目 | 镍网 | 100枚/盒 |
DS10013Au | 金网微栅硅膜 | 300目 | 金网 | 100枚/盒 |
报价:¥4800
已咨询50次纯硅膜
报价:¥4800
已咨询69次纯铝膜
报价:¥400
已咨询94次碳支持膜
报价:¥13800
已咨询1463次热封仪
报价:¥13806
已咨询1434次热封仪
报价:面议
已咨询627次显微镜载玻片
报价:¥38000
已咨询56次介电击穿强度测定仪
报价:¥38000
已咨询55次介电击穿强度测定仪
TEM电镜制样载体。
TEM电镜制样载体。
传统方华膜(聚乙烯醇缩甲醛),没有其它镀层及杂质,可溶于多种有机溶剂,膜韧性强,通透率高,是附载生物超薄切片的理想产品;但导电性差,建议在100KV加速电压电镜下使用
微栅是在膜上制成边缘有层次的微米透孔,可以制作不同孔径;镀碳后孔上也不会有膜层;样品负载在孔边缘,基底不会有干扰,高分辨电镜使用的理想产品,膜厚20nm左右;也可做电子衍射使用。
超薄碳膜我们书面名称叫超薄微栅膜,是在微栅膜的基础上又镀了一层超薄纯碳膜,覆盖在微孔上面,这层膜大约5nm厚,电子束长时间照射不会产生黑斑,适合粒径较小、分散性较好、衬度较低的样品做高分辨晶格像观察。
是在膜上制成边缘有层次的微米透孔,可以制作不同孔径,可消除支持膜背底对图像衬度与成分分析的影响。特点是耐受不同组分等离子体长时间清洗,可彻底清除电镜样品表面碳污染。适用于纳米线、纳米片、纳米团聚物等纳米材料的高分辨(S)TEM图像、EDS成分、EELS分析。
薄区非晶膜厚5纳米左右(特殊要求厚度可定制),特点是耐受不同组分等离子体长时间清洗,可彻底清除电镜样品表面碳污染。可保证纳米/原子尺度(S)TEM-EDS/EELS面分布图长时采集过程中无明显积碳现象。适用于对于小尺寸超分散纳米材料以及含碳材料的高分辨透射微结构分析。