Bias-HAST高加速老化 偏压老化测试系统

Bias-HAST高加速老化 偏压老化测试系统，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。

Bias-HAST高加速老化 偏压老化测试系统的特点

·高机能：采用驱动计测， 测试时焊接工序大幅减少

·软件设计简单明了，直观易操作

·远程监控功能，可监控试验过程。

·便利性高：构造装着脱落式、 易进行保养交换。可同时试验停 止等联动装置功能，系统构成灵活。

·测试自检功能：点检、校正方便。

·设计精巧，不受场所限制，易移动。

·可靠性高：配有CF卡，以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑，确保试验的安全继续进行。

Bias-HAST高加速老化 偏压老化测试系统

应用：PCB、焊料、助焊剂、涂层材料等，GBA、DSP等，IC封装、电容器、连接器 等电子器件及材料绝缘材料吸湿特性测试评估。