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OLED寿命老化测试系统

销售范围售全国

入驻年限第10年

营业执照已审核

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详细介绍

简介

该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。

系统主要测试参数

绘制OLED寿命老化曲线

系统特点

恒温恒湿箱参数：

箱体尺寸	具体尺寸待定
温度范围	-40℃~150℃，或-20℃~150℃，或0℃～+150℃多个温度范围（用户可根据实际测试需求选择）
升温速率	2℃～4℃/min[从常温升到zui高温、非线性空载）
降温速率	0.7℃～1.0℃/min[从常温升到zui高温、非线性空载）
解析精度（显示）	温度：±0.01℃
解析湿度（显示）	±0.1%R.H
温度波动度	±0.5℃
温度均匀度	±2.0℃
湿度范围	20%～98%R.H [25℃-85℃内]
湿度波动度	±2.0%R.H.
湿度偏差	±3% [湿度>75%RH 时]
总功率/电压	5KW/380V
控制功能	触控显示屏，温度设定可采用定值或程式编辑，可定时；标配USB接口，电脑只可读取温度数据，不能控制温度，需通过触控显示屏操作

测试原理

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